垂直布里奇曼法生长氧化镓单晶及其性能表征
作者机构:杭州富加镓业科技有限公司 中国科学院上海光学精密机械研究所
出 版 物:《人工晶体学报》 (Journal of Synthetic Crystals)
年 卷 期:2025年
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学]
主 题:β-Ga O 垂直布里奇曼法 晶体生长 高质量结晶 宽禁带半导体
摘 要:本文采用自主设计的垂直布里奇曼(VB)炉,通过动态模拟与实验深度耦合迭代优化的方法,建立了生长炉模型,通过优化生长炉的温场得到最佳温场,并根据模拟最佳温场对实际温场进行优化改造,成功生长出直径3英寸(1英寸=2.54 cm)氧化镓(β-Ga2O3)单晶。进一步加工得到最大尺寸为直径2.5英寸的(100)面β-Ga2O3晶圆,并对β-Ga2O3晶体的结晶质量和光学性能进行了表征测试。测试结果表明,β-Ga2O3晶体具有较高质量,其紫外截止边为257.5 nm,对应光学带隙为4.78 eV,晶体的劳埃衍射斑点清晰、对称,摇摆曲线半峰全宽(FWHM)最小为39.6。