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航天用高强度弹簧镀锌工艺替代方案研究

电镀与涂饰 2024年第2期43卷 9-17页

作者：魏建中王福光郭文营北京新风航天装备有限公司北京100854 航天科工防御技术研究试验中心北京100854

[目的]高强度弹簧是常用于为导弹空气舵、弹翼展开锁定提供驱动力的零件,通常采用高强度钢制造,以镀锌作为其表面防护手段,但该工艺过程存在氢脆导致弹簧脆性断裂的风险。[方法]分别对高强钢进行镀锌、镀锌镍合金、达克罗涂覆和离子镀铝... 详细信息

[目的]高强度弹簧是常用于为导弹空气舵、弹翼展开锁定提供驱动力的零件,通常采用高强度钢制造,以镀锌作为其表面防护手段,但该工艺过程存在氢脆导致弹簧脆性断裂的风险。[方法]分别对高强钢进行镀锌、镀锌镍合金、达克罗涂覆和离子镀铝,对比了不同镀(涂)层的厚度、结合力和耐蚀性,以寻找镀锌替代方案。[结果]达克罗涂覆、离子镀铝和镀锌镍合金都属于无氢脆或低氢脆表面处理工艺,但更推荐采用镀锌镍合金代替高强钢镀锌工艺。[结论]选择合适的表面处理工艺能够在一定程度上避免高强钢弹簧氢脆断裂问题。

关键词：航天弹簧镀锌锌镍合金达克罗涂层离子镀铝氢脆耐蚀性

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多轴平稳非高斯随机振动试验控制方法

振动工程学报 2024年第3期37卷 522-527页

作者：郑荣慧李晋鹏魏小辉陈怀海南京航空航天大学航空学院航空航天结构力学及控制全国重点实验室江苏南京210016 航天科工防御技术研究试验中心北京100854

多轴向平稳非高斯随机振动控制试验能够对指定响应信号的时、频域特征进行同时控制。提出了一种快速生成具有指定功率谱密度、斜度和峭度的平稳非高斯随机振动信号的方法。通过频率采样方法将目标功率谱密度设计成滤波器,利用非线性变... 详细信息

多轴向平稳非高斯随机振动控制试验能够对指定响应信号的时、频域特征进行同时控制。提出了一种快速生成具有指定功率谱密度、斜度和峭度的平稳非高斯随机振动信号的方法。通过频率采样方法将目标功率谱密度设计成滤波器,利用非线性变换方法获取非高斯随机信号,再将此信号经过设计的滤波器以获得满足要求的非高斯随机信号。该方法简单、快速并克服了传统非线性变换方法的缺点。进一步将此方法应用于三轴向平稳非高斯随机振动试验中,给出了三轴向非高斯随机振动控制的闭环均衡步骤,此方法能够同时对信号的功率谱自谱、相干系数、相位差以及斜度和峭度进行解耦控制。进行了三轴向平稳非高斯随机振动控制试验,三个方向上加速度信号的功率谱密度、斜度和峭度控制效果均令人满意,满足工程应用要求。

关键词：随机振动平稳非高斯多轴振动斜度峭度功率谱密度

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面向高可靠性应用的元器件检验管控措施研究

电子元器件与信息技术 2024年第4期8卷 15-17页

作者：庞明奇任翔刘净月武荣荣王星航天科工防御技术研究试验中心

近年来，伴随复杂应用环境下系统质量高可靠的发展需求，对元器件的可靠性也提出了更高的要求。本文结合面向高可靠性应用的元器件质量管控现状，提出了差异化元器件检验管控模式，可有效克服传统元器件质保检测在灵活性、验证全面性等... 详细信息

近年来，伴随复杂应用环境下系统质量高可靠的发展需求，对元器件的可靠性也提出了更高的要求。本文结合面向高可靠性应用的元器件质量管控现状，提出了差异化元器件检验管控模式，可有效克服传统元器件质保检测在灵活性、验证全面性等方面的局限性。通过综合考虑元器件的特性、应用环境特点等要素，开展元器件检验项目设计，以对高可靠性环境用元器件的质量保证提供指导。

关键词：元器件质量保证检验可靠性

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基于单线振动台的角振动试验系统研究

装备环境工程 2024年第3期21卷 49-54页

作者：董智远李旭师钰李飞飞孙东乐航天科工防御技术研究试验中心北京100854

目的考核陀螺类产品在角振动环境下的适应性。方法开发基于单线振动台的角振动试验系统,该系统以线角转换原理为依据,设计铰接机械结构,将线振动台的平动自由度转换为转动自由度。以角振动控制原理为依据,设计控制流程,实现闭环控制... 详细信息

目的考核陀螺类产品在角振动环境下的适应性。方法开发基于单线振动台的角振动试验系统,该系统以线角转换原理为依据,设计铰接机械结构,将线振动台的平动自由度转换为转动自由度。以角振动控制原理为依据,设计控制流程,实现闭环控制。结果开展了角定频试验和角扫频试验,对系统的控制效果进行了验证。对比了线参数控制和角参数控制2种方法,结果表明,角参数控制法具有更高的控制精度。由于闭环控制的作用,角参数控制法可通过驱动电压的调整直接影响角参数值,从而抵消了部分由于系统连接、解耦或振动引入的误差。结论该角振动试验系统解决了双台角振动旋转半径受限、线能力受限等问题,克服了摇摆台频带过窄的问题,为角振动试验提供一种新的实施方法。

关键词：角振动试验线角转换闭环控制振动台定频扫频

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薄壁壳体构件力振耦合试验装置设计及应用

环境技术 2024年第4期42卷 11-16页

作者：苏伯泰陈耀庞家志刘小珍师钰李佳昌航天科工防御技术研究试验中心北京100854

为满足某装备薄壁壳体构件在不断重复高/低载荷条件下可靠性试验需求,采用螺杆挤压随形工件的内平衡加载方式设计力加载装置,在振动环境下进行可行性验证,表明该装置满足薄壁壳体构件在(1~350)Hz频率范围内的力振耦合加载需求。

关键词：薄壁壳体可靠性内平衡加载力振耦合

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星载低剖面一维相扫缝隙阵天线设计

系统工程与电子技术 2024年

作者：陈博王伟刘涓吉建民中国航天科工防御技术研究院北京遥感设备研究所

针对星载相控阵雷达应用背景，本文提出了一款工作于Ku频段的低剖面轻量化一维相扫缝隙阵天线。天线基于射频-数字-供电一体化设计思路，并采用系统级封装（system in package， SiP）芯片实现高密度结构集成。与传统基于砖式或瓦片式... 详细信息

针对星载相控阵雷达应用背景，本文提出了一款工作于Ku频段的低剖面轻量化一维相扫缝隙阵天线。天线基于射频-数字-供电一体化设计思路，并采用系统级封装（system in package， SiP）芯片实现高密度结构集成。与传统基于砖式或瓦片式收发（transmit/receive， T/R）组件的相控阵天线相比，有效降低了天线剖面高度和重量。天线中心工作频率为16 GHz，具有600 MHz工作带宽，可实现一维方向波束扫描。此外，天线设计了自校准网络，可用于在轨期间射频通道幅相特性实时检测。样机实测表明，天线扫描角度范围可达±30°，等效全向辐射功率（effective isotropic radiated power， EIRP）与接收增益与噪声温度比（gain-to-noise temperature ratio，G/T）值测试结果均与理论计算值吻合。

关键词：星载低剖面缝隙阵天线高集成相控阵

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FPGA器件动态老炼试验方法研究

电子制作 2024年第8期32卷 34-37页

作者：罗俊杰航天科工防御技术研究试验中心北京100040

对FPGA进行动态老炼试验是有效提高FPGA使用可靠性的方法之一,本文以XILINX公司的FPGA器件XC6SLX45-3CSG324I为例,从FPGA的动态老炼方案、老炼设备选择和老炼板设计等方面介绍了FPGA器件动态老炼试验方法,该方法具有通用性,可为实现其他... 详细信息

对FPGA进行动态老炼试验是有效提高FPGA使用可靠性的方法之一,本文以XILINX公司的FPGA器件XC6SLX45-3CSG324I为例,从FPGA的动态老炼方案、老炼设备选择和老炼板设计等方面介绍了FPGA器件动态老炼试验方法,该方法具有通用性,可为实现其他FPGA器件的动态老炼试验提供借鉴。

关键词：动态老炼 FPGA 可靠性

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首次选用的典型裸芯片应用可靠性评价方法

电子与封装 2024年第5期24卷 25-28页

作者：武荣荣梅亮任翔曹阳庞明奇刘净月航天科工防御技术研究试验中心北京100039

受装备尺寸及重量的限制,在设备多功能、高精度、高可靠性的需求下,装备开始采用裸芯片代替封装后的器件。直接应用生产好未经过封装的芯片,在一定程度上降低了成本,但没有封装保护的裸芯片对质量与可靠性提出了更高的要求。首次选用时... 详细信息

受装备尺寸及重量的限制,在设备多功能、高精度、高可靠性的需求下,装备开始采用裸芯片代替封装后的器件。直接应用生产好未经过封装的芯片,在一定程度上降低了成本,但没有封装保护的裸芯片对质量与可靠性提出了更高的要求。首次选用时,基于对裸芯片应用可靠性的风险分析,设计了可靠性评价项目,完成了评价方案的制定,对裸芯片功能/性能、可靠性及适应性等方面进行评估摸底。实践结果证明,基于风险分析的应用可靠性评价方法能有效避免有质量风险或可靠性不满足要求的器件上装应用。

关键词：裸芯片首次选用应用可靠性评价

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基于ATE的测试向量自动生成技术研究

电子制作 2024年第6期32卷 21-24页

作者：韦纯进廖勇张亭亭李佳俊航天科工防御技术研究试验中心北京100854

随着FLASH存储器容量的不断扩大,实现其全地址多功能测试所需要的向量深度也急剧增加。传统的复制法实现全地址测试向量编写耗时耗力。并且生产一线大容量FLASH的测试时间花费较长,1Gbit的FLASH全地址program测试需要30分钟左右。针对... 详细信息

随着FLASH存储器容量的不断扩大,实现其全地址多功能测试所需要的向量深度也急剧增加。传统的复制法实现全地址测试向量编写耗时耗力。并且生产一线大容量FLASH的测试时间花费较长,1Gbit的FLASH全地址program测试需要30分钟左右。针对以上两个问题,本文基于ATE测试系统利用DSRC技术以及写缓冲技术开发了存储器测试向量的自动生成工具,可以实现全地址读写测试。最后以MICRON公司的MT28EW01GABA1HPC为例,通过实际测试数据评估向量自动生成工具的开发效率及生产测试效率。

关键词： FLASH DSRC 写缓冲测试向量自动生成