面向高可靠性应用的元器件检验管控措施研究
作者机构：航天科工防御技术研究试验中心
出 版 物：《电子元器件与信息技术》 (Electronic Components and Information Technology)
年 卷 期：2024年第8卷第4期
页 面：15-17页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：近年来，伴随复杂应用环境下系统质量高可靠的发展需求，对元器件的可靠性也提出了更高的要求。本文结合面向高可靠性应用的元器件质量管控现状，提出了差异化元器件检验管控模式，可有效克服传统元器件质保检测在灵活性、验证全面性等方面的局限性。通过综合考虑元器件的特性、应用环境特点等要素，开展元器件检验项目设计，以对高可靠性环境用元器件的质量保证提供指导。
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