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主题

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作者

  • 3 篇 钟春丽
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  • 2 篇 李桂祥
  • 2 篇 朱毅
  • 2 篇 杨江平
  • 2 篇 生拥宏
  • 2 篇 张平
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语言

  • 73 篇 中文
检索条件"主题词=边界扫描技术"
73 条 记 录,以下是11-20 订阅
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边界扫描技术及其在武器装备中的应用
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国防技术基础 2005年 第12期 39-40页
作者: 王海波 候同刚 王旭 中国空空导弹研究所 高工
在飞机、导弹和雷达等武器装备中,电子设备的性能已经成为其作战效能的决定因素,而其电子设备的可靠性、可维护性则是影响其作战使用性的关键所在.美国军方的数据表明:航空电子的故障率占飞机故障率的43%,而其维修工时占了近34%.
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边界扫描技术及其在VLSI芯片互连电路测试中的应用
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皖西学院学报 2006年 第5期22卷 59-62页
作者: 倪军 皖西学院机械与电子工程系 安徽六安237012
本文介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、以PC机作平台,针对由两块Xilinx公司的xc9572_pc84芯片所互连的PCB板,结合边界扫描技术,探讨了芯片级互连故障的测试与诊断策略。体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高,控制简单方便... 详细信息
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基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法
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信息工程大学学报 2013年 第5期14卷 600-606页
作者: 钟春丽 张平 生拥宏 朱毅 曹凯 信息工程大学 95854部队
针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提... 详细信息
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基于并行机制的边界扫描技术
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电子器件 2008年 第5期31卷 1611-1614页
作者: 邓中亮 韩可 邹德君 北京邮电大学电子工程学院 北京100876
在SoC测试时,测试功耗和测试成本是其可测性设计中最重要的一点要求。在分析了常见测试结构的测试功耗的基础上,提出了一种并行扫描机制的测试结构,包括访问机制的设计和测试控制器的设计。该方法可根据测试成本和测试功耗的要求,选择... 详细信息
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测试技术的飞跃——边界扫描技术
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电信技术 2002年 第2期 75-77页
作者: 蔚英辉 上海贝尔有限公司 201206
集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难 ,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案 ,极大地方便了系统电路... 详细信息
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边界扫描技术解决复杂电路板的测试问题
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电子工业专用设备 1990年 第2期19卷 35-39页
作者: 车明康 常州电子计算机厂
边界扫描技术通过电路板的边缘引线,就能测试和诊断电路板的制造性故障与器件的内部逻辑。这种技术特别适用于测试采用SMT电装技术和某些大规模ASIC芯片的复杂电路板。
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基于边界扫描技术故障注入器设计
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微计算机信息 2010年 第26期26卷 71-72,104页
作者: 刘奕宏 杨春晖 宾建伟 罗银 工业和信息化部电子第五研究所 广州510610
针对目前大多数嵌入式微控制器和处理器,提出了一种基于边界扫描技术的故障注入器实现方法。它通过嵌入式系统集成的JTAG端口实现对故障的注入操作。本文详细阐明了故障注入的原理、故障注入器总体结构、注入故障的描述方法及故障注入... 详细信息
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基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台
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国外电子测量技术 2015年 第11期34卷 10-13页
作者: 高天虹 北京中科泛华测控技术有限公司
随着电子设备复杂程度的日益提高,其核心电路板的品质已成为决定电子设备质量和性能的重要因素,而电路板的测试主要面临技术、周期和费用3大方面的挑战,集成最新技术的电路板测试平台被越来越多的测试工程师所关注。基于泛华电路板测试... 详细信息
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基于边界扫描技术的互连测试
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电子元器件应用 2005年 第3期7卷 45-46页
作者: 张学斌 同济大学中德学院 上海200092
边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点,主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。
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JTAG边界扫描技术的研究和设计
JTAG边界扫描技术的研究和设计
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全国第十五届计算机科学与技术应用学术会议
作者: 蔡金青 王锐 高明伦 合肥工业大学微电子设计研究所 合肥工业大学微电子设计研究所 合肥工业大学微电子设计研究所
边界扫描技术是符合IEEE规范的一种测试方法,它的设计的实现降低了测试的复杂度, 适合进行超大规模集成电路的测试。本文介绍了边界扫描技术的概念、特点及其设计方法,给出了设计的部分框架,讨论了边界扫描技术的应用。
来源: cnki会议 评论