基于边界扫描技术的互连测试
Interconnection Test Technology Based on JTAG作者机构：同济大学中德学院上海200092
出 版 物：《电子元器件应用》 (Electronic Component & Device Applications)
年 卷 期：2005年第7卷第3期
页 面：45-46页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点,主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。
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