测试技术的飞跃——边界扫描技术
作者机构：上海贝尔有限公司201206
出 版 物：《电信技术》 (Telecommunications Technology)
年 卷 期：2002年第2期
页 面：75-77页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难 ,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案 ,极大地方便了系统电路的调试。本文将介绍边界扫描的原理 。
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