咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 24 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 24 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 6 篇 工学
    • 4 篇 仪器科学与技术
    • 2 篇 控制科学与工程
    • 1 篇 材料科学与工程(可...
  • 1 篇 经济学
    • 1 篇 应用经济学

主题

  • 24 篇 质谱室
  • 7 篇 抽速
  • 6 篇 漏孔
  • 6 篇 氦气
  • 4 篇 标准漏孔
  • 4 篇 氦质谱检漏仪
  • 4 篇 输出表
  • 3 篇 电子设备
  • 3 篇 真空系统
  • 3 篇 油扩散泵
  • 3 篇 四极滤质器
  • 3 篇 氦质谱仪
  • 3 篇 节流阀
  • 3 篇 半导体器件
  • 3 篇 流量控制阀
  • 3 篇 四极质谱计
  • 3 篇 反流
  • 3 篇 粒子束
  • 3 篇 真空泵
  • 2 篇 检漏方法

机构

  • 3 篇 兰州物理研究所
  • 1 篇 宁夏有色金属研究...
  • 1 篇 沈阳市真空机械三...
  • 1 篇 原子能研究所
  • 1 篇 艾默生有限公司
  • 1 篇 中国科学院青海盐...
  • 1 篇 701组
  • 1 篇 中国科学院原子能...
  • 1 篇 国营星光电工厂
  • 1 篇 十二所七室
  • 1 篇 四川锅炉厂
  • 1 篇 中国科学院感光化...
  • 1 篇 中国科学院大连化...

作者

  • 2 篇 陈文奎
  • 1 篇 邢建中
  • 1 篇 李明光
  • 1 篇 吕日昌
  • 1 篇 李君翔
  • 1 篇 黄上俊
  • 1 篇 刘明远
  • 1 篇 冯泽
  • 1 篇 曹慎诚
  • 1 篇 叶庆镛
  • 1 篇 黎诣远
  • 1 篇 肖祥正
  • 1 篇 李丽
  • 1 篇 李光亚
  • 1 篇 张景昆
  • 1 篇 康致泉
  • 1 篇 边雅明
  • 1 篇 陈庆林
  • 1 篇 王修佩
  • 1 篇 郜学勤

语言

  • 24 篇 中文
检索条件"主题词=质谱室"
24 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
感光所进口大型质谱仪管理应用实践
收藏 引用
科研管理 1990年 第4期 46-50页
作者: 康致泉 边雅明 中国科学院感光化学研究所
本文提出了国内进口大型分析仪器在管理和应用方面存在的问题,并结合感光所的工作实际,概括出他们解决这些问题的具体做法与经验。此外,文章还对感光所质谱仪在国内分析学科中所形成的特色进行了专门的分析和介绍。
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
ZH-1氦质谱探漏仪的研制
收藏 引用
真空 1995年 第5期32卷 1-5页
作者: 叶庆镛 沈阳市真空机械三厂
研制出目前国内最小型的高灵敏度氦质谱探漏仪,仪器整机设计合理,长期运转可靠。在计算与实验研究的基础上设计的质谱室具有高灵敏度,高工作压强,低本底的特点,因而是大型复杂设备密封性检测的理想仪器。文中介绍设计要点及现场实... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
涡轮分子泵逆检流漏技术研究
收藏 引用
真空与低温 1986年 第4期 26-32页
作者: 肖祥正 卓勇 邢建中 张家珠 兰州物理研究所
一、逆流检漏方法的特点在通常的氦质谱检漏法中,被检件接在检漏仪的高真空侧,被检件通过节流阀与检漏仪的质谱室相连,如图1所示。氦气通过漏孔进入被检件并被抽入质谱室,其中一部分被主泵抽走,另一部分在氦质谱室中建立起氦分压,由此... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
半导体器件气密性的细检系统
收藏 引用
半导体光电 1982年 第1期 61-66页
作者: 王修佩
本文根据质谱探漏的特点,分析了两种检漏方法的物理过程。明确了检漏工艺对测试系统的要求。指出了用玻璃阀门组成的检漏系统存在的问题。所介绍的两种新系统都具有“本底小”、省劳力、速度高的优点。
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
JF-2型交叉分子束实验装置主机设计
收藏 引用
真空科学与技术学报 1981年 第4期 197-204页
作者: 吕日昌 李光亚 中国科学院大连化学物理研究所
这台装置由三大部分组成:真空系统、束源和检测仪器。气束源、准直、炉、反应质谱室采用差级抽气。除质谱室用了一台离子泵外,各均用油扩散泵抽气。束源之一是超音速喷射气束,另一个是加热电炉,其最高加热温度为1600℃,可... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
真空设备的检漏
收藏 引用
光电子学技术 1986年 第1期 18-25页
作者: 贺贤能
检漏对每个真空工作者来说是比较熟悉的,从真空获得的发展历史来看,无数的真空工作者都在和漏气作顽强的斗争,因此出现了许许多多的检漏方法。40年代由于原子能工业的发展,要求回旋加速器系统的真空度达到高真空,真空系统的漏率要小于1... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
第三章 氦质谱真空检漏法的物理过程
收藏 引用
真空与低温 1984年 第S1期 22-30页
用氦质谱检漏仪进行检漏的方法有真空法、加压法和背压法三种,它们都有各自的特点和适用对象。然而真空法的应用更为广泛。因此了解这种方法的物理过程,对于正确选择检漏系统、正确运用这种方法和解决检漏中出现的实际问题是非常必要的。
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
第二章 各种检漏方法
收藏 引用
真空与低温 1984年 第S1期 5-22页
一、碳氟化合物检漏法本讲义第一册曾经讲过,对全密封的电真空器件、微电子器件、半导体管以及空心球等的检漏,通常采用氦质谱检漏仪背压检漏法或放射性同位素背压检漏法作为精检手段;然而它们只能在一定的漏率范围内才是有效的,并且都... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
半导体器件的无损氦质谱检漏
收藏 引用
微电子学 1974年 第1期 23-41页
作者: 刘明远 701组
自本刊1973年第3期发表《无损氦质谱检漏》一文以来,陆续收到一些兄弟单位来信询问有关半导体器件检漏问题,现经从事此项工作的同志们将上文讨论、修改、补充之后再行发表,以解答读者提出的一部分问题。我们这方面工作做得很不够,望各... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
半导体器件氦检漏报告
收藏 引用
半导体技术 1980年 第3期 62-67页
作者: 廖耀祥 国营星光电工厂
近年来,半导体器件和集成电路发展很快,其应用也日益广泛.对其可靠性和稳定性也相应地提出了新的要求.为极大程度地消除由于器件封装漏气使管芯暴露于潮气等各种有害气氛中所导致器件电性能劣化或失效之因素,研究半导体器件和电路封装... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论