咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 40,733 篇 期刊文献
  • 714 篇 会议
  • 1 册 图书

馆藏范围

  • 41,448 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 17,515 篇 工学
    • 3,797 篇 材料科学与工程(可...
    • 2,105 篇 化学工程与技术
    • 1,889 篇 机械工程
    • 1,459 篇 电子科学与技术(可...
    • 1,256 篇 电气工程
    • 1,204 篇 仪器科学与技术
    • 1,107 篇 计算机科学与技术...
    • 948 篇 光学工程
    • 855 篇 软件工程
    • 793 篇 土木工程
    • 741 篇 控制科学与工程
    • 680 篇 动力工程及工程热...
    • 644 篇 生物工程
    • 624 篇 生物医学工程(可授...
    • 615 篇 水利工程
  • 15,384 篇 医学
    • 9,100 篇 临床医学
    • 2,937 篇 中西医结合
    • 1,984 篇 中药学(可授医学、...
    • 1,856 篇 药学(可授医学、理...
    • 1,084 篇 基础医学(可授医学...
    • 905 篇 公共卫生与预防医...
    • 843 篇 医学技术(可授医学...
  • 7,429 篇 理学
    • 1,495 篇 化学
    • 1,472 篇 生物学
    • 1,371 篇 数学
    • 999 篇 物理学
    • 780 篇 生态学
  • 4,902 篇 农学
    • 1,436 篇 作物学
    • 1,149 篇 农业资源与环境
  • 1,604 篇 管理学
    • 864 篇 管理科学与工程(可...
  • 666 篇 教育学
  • 610 篇 经济学
  • 251 篇 文学
  • 244 篇 法学
  • 109 篇 艺术学
  • 96 篇 军事学
  • 77 篇 历史学
  • 53 篇 哲学

主题

  • 188 篇 预后
  • 185 篇 凋亡
  • 184 篇 化学成分
  • 145 篇 力学性能
  • 135 篇 细胞增殖
  • 117 篇 基因克隆
  • 117 篇 质量标志物
  • 116 篇 大鼠
  • 111 篇 网络药理学
  • 111 篇 数值模拟
  • 104 篇 基因
  • 100 篇 meta分析
  • 97 篇 儿童
  • 95 篇 代谢组学
  • 95 篇 细胞凋亡
  • 87 篇 影响因素
  • 79 篇 危险因素
  • 76 篇 q学习
  • 70 篇 质量控制
  • 65 篇 显微组织

机构

  • 277 篇 中国科学院大学
  • 223 篇 华中科技大学
  • 212 篇 山东大学
  • 174 篇 兰州理工大学
  • 173 篇 中国科学院研究生...
  • 173 篇 长江大学
  • 167 篇 北京中医药大学
  • 167 篇 上海交通大学
  • 155 篇 西北农林科技大学
  • 146 篇 南京大学
  • 144 篇 河北大学
  • 141 篇 武汉科技大学
  • 132 篇 江苏大学
  • 132 篇 同济大学
  • 130 篇 天津中医药大学
  • 121 篇 三峡大学
  • 118 篇 university of ch...
  • 111 篇 北京交通大学
  • 110 篇 东南大学
  • 110 篇 黑龙江中医药大学

作者

  • 171 篇 张敏
  • 152 篇 张磊
  • 140 篇 张静
  • 138 篇 张伟
  • 98 篇 张波
  • 93 篇 张涛
  • 93 篇 张勇
  • 91 篇 张颖
  • 88 篇 张娜
  • 84 篇 张杰
  • 78 篇 张楠
  • 78 篇 张辉
  • 75 篇 张玲
  • 73 篇 张健
  • 73 篇 张鹏
  • 68 篇 张强
  • 59 篇 张超
  • 59 篇 张丽
  • 58 篇 张华
  • 58 篇 张宇

语言

  • 37,553 篇 中文
  • 3,895 篇 英文
检索条件"作者=g.q.Zhang"
41448 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
Degradation of light emitting diodes:a proposed methodology
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2011年 第1期32卷 41-44页
作者: Sau Koh Willem Van Driel g.q.zhang Delft Institute of Microsystems and Nanoelectronics(Dimes) Delft University of Technology Materials Innovation Institute(M2i) Mekelweg 22628 CDDelftNetherlands philips Lighting LightLabsNL-5611BDEindhovenNetherlands
Due to their long lifetime and high efficacy, light emitting diodes have the potential to revolutionize the illumination industry. However, self heat and high environmental temperature which will lead to increased jun... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
STCF conceptual design report (Volume 1): Physics & detector
收藏 引用
Frontiers of physics 2024年 第1期19卷 1-154页
作者: M.Achasov X.C.Ai L.P.An R.Aliberti q.An X.Z.Bai Y.Bai O.Bakina A.Barnyakov V.Blinov V.Bobrovnikov D.Bodrov A.Bogomyagkov A.Bondar I.Boyko Z.H.Bu F.M.Cai H.Cai J.J.Cao q.H.Cao X.Cao Z.Cao q.Chang K.T.Chao D.Y.Chen H.Chen H.X.Chen J.F.Chen K.Chen L.L.Chen P.Chen S.L.Chen S.M.Chen S.Chen S.P.Chen W.Chen X.Chen X.F.Chen X.R.Chen Y.Chen Y.q.Chen H.Y.Cheng J.Cheng S.Cheng T.g.Cheng J.P.Dai L.Y.Dai X.C.Dai D.Dedovich A.Denig I.Denisenko J.M.Dias D.Z.Ding L.Y.Dong W.H.Dong V.Druzhinin D.S.Du Y.J.Du Z.g.Du L.M.Duan D.Epifanov Y.L.Fan S.S.Fang Z.J.Fang g.Fedotovich C.q.Feng X.Feng Y.T.Feng J.L.Fu J.gao Y.N.gao P.S.ge C.q.geng L.S.geng A.gilman L.gong T.gong B.gou W.gradl J.L.gu A.guevara L.C.gui A.q.guo F.K.guo J.C.guo J.guo Y.P.guo Z.H.guo A.guskov K.L.Han L.Han M.Han X.q.Hao J.B.He S.q.He X.g.He Y.L.He Z.B.He Z.X.Heng B.L.Hou T.J.Hou Y.R.Hou C.Y.Hu H.M.Hu K.Hu R.J.Hu W.H.Hu X.H.Hu Y.C.Hu J.Hua g.S.Huang J.S.Huang M.Huang q.Y.Huang W.q.Huang X.T.Huang X.J.Huang Y.B.Huang Y.S.Huang N.Hüsken V.Ivanov q.P.Ji J.J.Jia S.Jia Z.K.Jia H.B.Jiang J.Jiang S.Z.Jiang J.B.Jiao Z.Jiao H.J.Jing X.L.Kang X.S.Kang B.C.Ke M.Kenzie A.Khoukaz I.Koop E.Kravchenko A.Kuzmin Y.Lei E.Levichev C.H.Li C.Li D.Y.Li F.Li g.Li g.Li H.B.Li H.Li H.N.Li H.J.Li H.L.Li J.M.Li J.Li L.Li L.Li L.Y.Li N.Li P.R.Li R.H.Li S.Li T.Li W.J.Li X.Li X.H.Li X.q.Li X.H.Li Y.Li Y.Y.Li Z.J.Li H.Liang J.H.Liang Y.T.Liang g.R.Liao L.Z.Liao Y.Liao C.X.Lin D.X.Lin X.S.Lin B.J.Liu C.W.Liu D.Liu F.Liu g.M.Liu H.B.Liu J.Liu J.J.Liu J.B.Liu K.Liu K.Y.Liu K.Liu L.Liu q.Liu S.B.Liu T.Liu X.Liu Y.W.Liu Y.Liu Y.L.Liu Z.q.Liu Z.Y.Liu Z.W.Liu I.Logashenko Y.Long C.g.Lu J.X.Lu N.Lu q.F.Lü Y.Lu Y.Lu Z.Lu P.Lukin F.J.Luo T.Luo X.F.Luo Y.H.Luo H.J.Lyu X.R.Lyu J.P.Ma P.Ma Y.Ma Y.M.Ma F.Maas S.Malde D.Matvienko Z.X.Meng R.Mitchell A.Nefediev Y.Nefedov S.L.Olsen q.Ouyang P.Pakhlov g.Pakhlova X.Pan Y.Pan E.Passemar Y.P.Pei H.P.Peng L.Peng X.Y.Peng X.J.Peng K.Peters S.Pivovarov E.Pyata B.B.qi Y.q.qi W.B.qian Y.qian C.F.qiao J.J.qin J.J.qin L.q.qin X.S.qin T.L.qiu J.Rademacker C.F.Redmer H.Y.Sang Anhui University Hefei 230039China Beihang University Beijing 100191China Budker Institute of Nuclear Physics Novosibirsk 630090Russia CAS Key Laboratory of Theoretical Physics Institute of Theoretical PhysicsChinese Academy of SciencesBeijing 100190China Cavendish Laboratory University of CambridgeJJ Thomson AveCambridge CB30HEUnited Kingdom Central China Normal University Wuhan 430079China Central South University Changsha 410083China China University of geosciences Wuhan 430074China China University of Mining and Technology Xuzhou 221116China École Polytechnique Fédérale de Lausanne(EPFL) LausanneSwitzerland Fudan University Shanghai 200433China goethe University Frankfurt D-60325 Frankfurt am MainGermany guangxi Normal University Guilin 541004China guangxi Uninversity Nanning 530004China Hangzhou Institute for Advanced Study UCASHangzhou 310024China Hebei Normal University Shijiazhuang 050024China Hebei University Baoding 071002China Hefei University of Technology Hefei 230601China Helmholtz Institute Mainz Staudinger Weg 18D-55099 MainzGermany Henan Normal University Xinxiang 453007China Henan University Kaifeng 475004China High Energy Physics Center Chung-Ang UniversitySeoul 06974Korea Higher School of Economy 11 Pokrovsky Bulvar Moscow 109028Russia Huangshan University Huangshan 245000China Hubei University of Automotive Technology Shiyan 442002China Hunan Normal University Changsha 410081China Hunan University of Science and Technology Xiangtan 411201China Hunan University Changsha 410082China Indiana University BloomingtonIndiana 47405USA Inner Mongolia University Hohhot 010021China Institute of Advanced Science Facilities Shenzhen 518107China Institute of High Energy Physics Chinese Academy of SciencesBeijing 100049China Institute of Modern Physics Chinese Academy of SciencesLanzhou 730000China Institute of Physics Academia SinicaTaipeiTaiwan 11529China Institute of Theoretical Physics Chinese Academy of SciencesBeijing 100190China Jilin University Changch
The superτ-charm facility(STCF)is an electron–positron collider proposed by the Chinese particle physics *** is designed to operate in a center-of-mass energy range from 2 to 7 geV with a peak luminosity of 0.5×10^... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
Effects of Vapor Pressure and Super-Hydrophobic Nanocomposite Coating on Microelectronics Reliability
收藏 引用
Engineering 2015年 第3期1卷 384-390页
作者: Xuejun Fan Liangbiao Chen C.P.Wong Hsing-Wei Chu g.q.zhang Department of Mechanical Engineering Lamar University State Key Laboratory of Solid State Lighting School of Materials Science and Engineering Georgia Tech Delft University of Technology Institute of Semiconductors Chinese Academy of Sciences
Modeling vapor pressure is crucial for studying the moisture reliability of microelectronics, as high vapor pressure can cause device failures in environments with high temperature and humidity. To minimize the impact... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
Multi-LED package design,fabrication and thermal analysis
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2013年 第5期34卷 54-58页
作者: R.H.Poelma S.Tarashioon H.W.van Zeijl S.goldbach J.L.J.Zijl g.q.zhang Delft University of Technology DelftThe Netherlands Philips Lighting EindhovenThe Netherlands Fico/Besi DuivenThe Netherlands
An ultra-thin multi-LED package is designed, manufactured and its thermal performance is character- ized. The objective of this study is to develop an efficient thermal modelling approach for this system which can be ... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
INVESTIgATION INTO HOT DEFORMATION BEHAVIOR OF SPRAY FORMED SUPERALLOY gH742
收藏 引用
Acta Metallurgica Sinica(English Letters) 2004年 第2期17卷 205-209页
作者: Z.Li g.q.zhang Z.H.zhang S.F.Tian National Key Lab.of High Temperature Structural Materials,Beijing Institute of Aeronautical Materials,Beijing 100095,China National Key Lab. of High Temperature Structural Materials Beijing Institute of Aeronautical MaterialsBeijing 100095China
In order to evaluate the deformation characteristics of spray formed superalloy gH742and determine the appropriate forging procedure of the alloy on this basis, the influenceof deformation temperature and strain rate ... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
D.C measurements and ion transport properties on multi-ion system
D.C measurements and ion transport properties on multi-ion s...
收藏 引用
第九届全国氢能学术会议
作者: g.q.zhang~1,C.Y.Wang~1,B.Zhu~2 1 Tianjin University,China 2 Royal Institutef Technology,Sweden
<正>Ionic and proton/oxygen ion conductivity and transport properties of composites consisting of samaria-doped ceria(SDC) by carbonate co-precipitation and sodium-lithium-carbonate(NL) were investigated at the ...
来源: cnki会议 评论
Location of Asymmetric ground Fault Using Virtual Injected Current Ratio and Two-stage Recovery Strategy in Distribution Networks
收藏 引用
CSEE Journal of Power and Energy Systems 2024年 第1期10卷 151-161页
作者: Haiting Shan Luliang zhang q.H.Wu Mengshi Li School of Electric Power Engineering South China University of Technology(SCUT)Guangzhou 510641China
Sparse measurements challenge fault location in distribution *** paper proposes a method for asymmetric ground fault location in distribution networks with limited measurements.A virtual injected current vector is for... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
APSO-CNN-SE: An Adaptive Convolutional Neural Network Approach for IoT Intrusion Detection
收藏 引用
Computers, Materials and Continua 2024年 第1期81卷 567-601页
作者: Ban Y. zhang D. He q. Shen q. College of Big Data and Information Engineering Guizhou University Guizhou 550025 China
The surge in connected devices and massive data aggregation has expanded the scale of the Internet of Things (IoT) networks. The proliferation of unknown attacks and related risks, such as zero-day attacks and Distrib... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
Seismic and geological evidence of hidden faults in the Yinpan Reservoir area based on a dense seismic array
收藏 引用
Science China Earth Sciences 2024年 第7期67卷 2401-2407页
作者: guangyao YIN Huai zhang Liwen gONg q ipeng BAI Yicun gUO Bing zhang Yaolin SHI Key Laboratoryof Earth System Numerical Modeling and Application(Chinese Academyof Sciences) College of Earth and Planetary SciencesUniversity of Chinese Academy of SciencesBeijing 100049China Key Laboratory of Computational geodynamics Chinese Academy of SciencesBeijing 100049China Southern Marine Science and Engineering guangdong Laboratory(Zhuhai) Zhuhai 519080China Beijing Yanshan Critical Zone National Field Scientific Observation and Research Station Beijing 101408China Chongqing Earthquake Agency Chongqing 401147 China Institute of Earthquake Forecasting China Earthquake AdministrationBeijing 100036China Hangzhou Applied Acoustics Research Institute Hangzhou 311100China State Key Laboratory of geodesy and Earths Dynamics Innovation Academy for Precision Measurement Science and TechnologyCASWuhan 430077China
*** November 23,2017,an M_(S)5.0 earthquake occurred in Wulong,Chongqing,China,resulting in tens of casualties and considerable economic ***,the epicenter of this earthquake was located in the transition zone from the... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
在跌落撞击负载条件下的键合互连可靠性测试(英文)
收藏 引用
电子工业专用设备 2008年 第1期37卷 1-9页
作者: J.J.M. Zaal W.D. van Driel H.P.Hochstenbachl g.q.zhang NXP Semiconductors The NetherlandsThe Netherlands Gerstweg 26534AE Nijmegen The Netherlands Delft University of Technology The Netherlands Gerstweg 2 6534AE Nijmegen The Netherlands
在大多数移动通信装置的寿命中最常见的故障是通过跌落撞击产生的。这是当今通过跌落撞击测试的方法测得的,该方法已经通过了JEDEC标准。然而这种方法相当耗时,且复验性方面还存在着一些问题。报道的研究是在与焊凸冷拉相关联的跌落撞... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论