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支持向量机在小子样IC可靠性评估中的应用

华南理工大学学报（自然科学版） 2009年第1期37卷 23-26页

作者：邹心遥姚若河华南理工大学电子与信息学院广东广州510640

在实际的电子元器件可靠性评估中,通常会遇到小样本的限制,无法满足传统的基于大样本的评估方法的假设.有鉴于此,文中提出了基于支持向量机的小子样元器件可靠性评估方法.该方法通过对元器件失效时间的训练,选择最优的核函数及核参数建... 详细信息

在实际的电子元器件可靠性评估中,通常会遇到小样本的限制,无法满足传统的基于大样本的评估方法的假设.有鉴于此,文中提出了基于支持向量机的小子样元器件可靠性评估方法.该方法通过对元器件失效时间的训练,选择最优的核函数及核参数建立支持向量机模型,利用建立的模型得到拟合直线,从而进行可靠性参数评估.将该方法应用于栅氧化层击穿寿命分布的评估中,可获得比基于大样本的最小二乘评估方法更高的评估精度.

关键词：可靠性集成电路支持向量机栅氧化层最小二乘法

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小子样正态寿命型IC的可靠性评估

半导体技术 2013年第3期38卷 227-230页

作者：邹心遥姚若河广东农工商职业技术学院机电系广州510507 华南理工大学电子与信息学院广州510640

面对集成电路(IC)在寿命试验中难以得到大量失效数据的小子样情形,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的小子样正态寿命型IC可靠性评估方法。该方法的主要思想是基于寿命试验数据建立最小二乘支持向量机回归模型,根据该模型计算出正... 详细信息

面对集成电路(IC)在寿命试验中难以得到大量失效数据的小子样情形,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的小子样正态寿命型IC可靠性评估方法。该方法的主要思想是基于寿命试验数据建立最小二乘支持向量机回归模型,根据该模型计算出正态分布的参数,从而进行可靠性评估。用蒙特卡罗方法研究了截尾失效情况下该方法在正态寿命型IC平均寿命评估应用中的可行性,同时与常用的最小二乘回归(LSR)法和极大似然估计(MLE)法相比,结果表明,基于LSSVM的方法能更精确地反映小子样下IC的可靠性,能为评估小子样正态寿命型IC的可靠性提供一种新的有效途径。

关键词：最小二乘支持向量机可靠性评估正态分布平均寿命集成电路

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创新能力导向的高职理实一体化实训室建设

实验室研究与探索 2017年第4期36卷 225-228页

作者：邹心遥广东农工商职业技术学院机电系广州510507

创新型技能人才是当前产业转型升级时期高职教育的人才培养目标。实践教学是高职教育教学体系中的重要组成部分、直接关系到高职教育的人才培养目标能否实现,实践场所是实践教学实施的重要保障条件。基于此,从创新能力培养出发,首先对... 详细信息

创新型技能人才是当前产业转型升级时期高职教育的人才培养目标。实践教学是高职教育教学体系中的重要组成部分、直接关系到高职教育的人才培养目标能否实现,实践场所是实践教学实施的重要保障条件。基于此,从创新能力培养出发,首先对理实一体化教学模式的特点进行了归纳分析,以高职电子类专业为例,从功能设计、布局设计两方面介绍了理实一体化实训室的建设经验。依托该实训室开展了理实一体化教学、创新设计竞赛和创客教育等一系列活动,实践表明,该模式在培养高职学生的创新能力方面具有一定的成效。

关键词：理实一体化实训室实践教学实训室建设创新能力高职院校

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铜铟硒多晶薄膜太阳电池的制备技术

可再生能源 2003年第4期21卷 22-24页

作者：姚若河邹心遥张红华南理工大学广东广州510640

简述了铜铟硒多晶薄膜太阳电池的研究现状,讨论了其制备技术及其特点,给出了进一步研究和要解决的现存问题。

关键词：铜铟硒多晶薄膜太阳电池制备技术异质结硒化退火蒸发法溅射夹层结构

示范性高职院校校内生产性实训基地的跟踪研究

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教育导刊（上半月） 2011年第4期 45-48页

作者：高俊文邹心遥广东农工商职业技术学院电子与信息工程系

校内生产性实训基地的建设是高职院校培养高素质高技能人才的重要途径。文章在调查近百所国家示范性高职院校校内生产性实训基地的建设情况的基础上,分析了高职院校校内生产性实训基地的主要内涵、功能、主要建设模式以及取得的成效,以... 详细信息

校内生产性实训基地的建设是高职院校培养高素质高技能人才的重要途径。文章在调查近百所国家示范性高职院校校内生产性实训基地的建设情况的基础上,分析了高职院校校内生产性实训基地的主要内涵、功能、主要建设模式以及取得的成效,以期为其他职业技术院校建设生产性实训基地提供有益的启示及借鉴作用。

关键词：示范高职院校生产性实训内涵模式

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基于LSSVM的小子样元器件寿命预测

半导体技术 2011年第9期36卷 730-733页

作者：邹心遥姚若河广东农工商职业技术学院电子与信息工程系广州510507 华南理工大学电子与信息学院广州510640

现代高可靠元器件在寿命试验时会出现失效数据很少的小子样情形,而传统的可靠性评估方法需要大量的失效数据,针对此情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于最小二乘支持向量机的小子样元器件寿命预测方法。该方法通过建立最小二乘支... 详细信息

现代高可靠元器件在寿命试验时会出现失效数据很少的小子样情形,而传统的可靠性评估方法需要大量的失效数据,针对此情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于最小二乘支持向量机的小子样元器件寿命预测方法。该方法通过建立最小二乘支持向量机模型,从而可根据已知元器件的失效时间去直接预测同一批未失效元器件的失效时间。将该方法应用于热载流子效应引起MOS管退化失效的加速寿命试验中进行MOS管失效时间的预测,结果表明基于最小二乘支持向量机的寿命预测方法在进行小子样元器件的寿命预测时具有很高的精确度。

关键词：寿命预测最小二乘支持向量机元器件小子样失效时间

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基于LSSVM的威布尔分布形状参数估计

半导体技术 2008年第6期33卷 501-505页

作者：邹心遥姚若河华南理工大学电子与信息学院微电子研究所广州510640

固态介质击穿寿命特性通常用威布尔分布来描述,形状参数β反应了固态介质的失效特征,因而需要精确估计β值。提出了在小样本情况下基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的参数评估方法,并给出了LSSVM在MOS电容与时间有关的击穿寿命分布评估中... 详细信息

固态介质击穿寿命特性通常用威布尔分布来描述,形状参数β反应了固态介质的失效特征,因而需要精确估计β值。提出了在小样本情况下基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的参数评估方法,并给出了LSSVM在MOS电容与时间有关的击穿寿命分布评估中的应用实例,并与常规的最小二乘评估方法相比,得到的结果表明LSSVM的评估精度更高(均方误差更小)、鲁棒性更好,在小样本情况下能更精确地确定威布尔分布的形状参数。

关键词：可靠性评估威布尔参数估计最小二乘支持向量机最小二乘回归

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基于BP神经网络的电子元器件寿命预测

微电子学与计算机 2009年第1期26卷 52-54页

作者：邹心遥姚若河华南理工大学电子与信息学院广东广州510640

电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速... 详细信息

电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.

关键词： BP神经网络寿命预测电子元器件 MOS电容

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基于谐波调制的低功耗超宽带脉冲收发器设计

电子器件 2016年第4期39卷 892-897页

作者：邹心遥黄俊辉陈豪广东农工商职业技术学院广州510507

为实现更高的超宽带近场数据传输,提出一种基于脉冲谐波调制的集成低功率收发器。该收发器在发射器(Tx)端使用两个具有特定振幅的窄脉冲,来抑制由接收器(Rx)高Q值LC谐振电路引起的码间干扰(ISI),从而实现高数据率。提出的接收器结构是... 详细信息

为实现更高的超宽带近场数据传输,提出一种基于脉冲谐波调制的集成低功率收发器。该收发器在发射器(Tx)端使用两个具有特定振幅的窄脉冲,来抑制由接收器(Rx)高Q值LC谐振电路引起的码间干扰(ISI),从而实现高数据率。提出的接收器结构是以非相干能量检测为基础,检测使用了基于脉冲的新型自动增益控制电路,这大大降低了短耦合距离内的功率消耗(46%)及ISI。提出的收发器采用0.35μm标准CMOS工艺制成。测试结果显示,当距离为10 mm时,实测数据传输速率为20Mbyte/s,误码率为8.7×10^(-8)。当电源电压为1.8 V时,提出的发射器和R接收器的功率损耗分别为180 p J/bit和12.15 p J/bit。

关键词：脉冲超宽带谐波调制低功率收发器