基于LSSVM的小子样元器件寿命预测

作     者：邹心遥 姚若河 Zou Xinyao;Yao Ruohe

作者机构：广东农工商职业技术学院电子与信息工程系广州510507 华南理工大学电子与信息学院广州510640 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2011年第36卷第9期

页      面：730-733页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 

主　　题：寿命预测 最小二乘支持向量机 元器件 小子样 失效时间 

摘      要：现代高可靠元器件在寿命试验时会出现失效数据很少的小子样情形,而传统的可靠性评估方法需要大量的失效数据,针对此情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于最小二乘支持向量机的小子样元器件寿命预测方法。该方法通过建立最小二乘支持向量机模型,从而可根据已知元器件的失效时间去直接预测同一批未失效元器件的失效时间。将该方法应用于热载流子效应引起MOS管退化失效的加速寿命试验中进行MOS管失效时间的预测,结果表明基于最小二乘支持向量机的寿命预测方法在进行小子样元器件的寿命预测时具有很高的精确度。