基于BP神经网络的电子元器件寿命预测
Lifetime Prediction of Electronic Devices Based on Forecast System of Back Propagation Neural Network作者机构：华南理工大学电子与信息学院广东广州510640
出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)
年 卷 期：2009年第26卷第1期
页 面：52-54页
学科分类：08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置]
摘 要：电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.
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