钛硅分子筛晶胞参数计算方法研究

作     者：忻睦迪 向彦娟 郑爱国 黄南贵 Xin Mudi;Xiang Yanjuan;Zheng Aiguo;Huang Nangui

作者机构：中国石化石油化工科学研究院北京100083 

出 版 物：《石油炼制与化工》 (Petroleum Processing and Petrochemicals)

年 卷 期：2014年第45卷第2期

页      面：35-40页

学科分类：07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：中国石油化工股份有限公司科研合同项目(No.R201101) 

主　　题：X射线衍射 Rietveld拟合 晶胞参数 TS-1 

摘      要：利用X射线衍射技术（XRD）对钛含量不同的系列钛硅分子筛（TS-1）的晶体结构进行研究.通过调节XRD测试的仪器参数,确定了最优试验条件,建立了利用Rietveld全谱拟合计算钛硅分子筛晶胞参数的方法.通过计算发现：原料中钛摩尔分数低于2.5％时制备的分子筛的晶胞参数随钛含量增加呈线性增加,推断分子筛制备时部分钛进入骨架;原料中钛摩尔分数为2.5％～8.0％时制备的分子筛的晶胞参数基本不变,推断制备时钛摩尔分数高出2.5％的部分不再进入分子筛骨架.