下一代测试系统化解闪存复杂性问题

作     者：Thomas Trexler 许伟达 

作者机构：科利登系统有限公司 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2004年第13卷第11期

页      面：70-75页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 

主　　题：闪存器 复杂性问题 掌上计算机 器件 内核 内存 插入 制造商 化解 需求 

摘      要：随着移动电话和掌上计算机等个人电子设备需求的驱动,闪存器件已经通过快速发展,迈上了更高的容量和性能水平.今天,半导体制造厂商发现,对更为先进的闪存产品的需求与日俱增,其交付方式或为独立的闪存器件,或者作为拥有逻辑电路的内核,嵌入单芯片器件中,或与微控器、逻辑或静态内存共同出现在芯片中.对闪存制造商来说,要想在这些高度竞争的市场中取得成功,就要求它们能够严格控制测试成本,尽管器件本身正日趋复杂.由于闪存在大小尺寸、速度和复杂性方面都在不断增加,制造商正在寻求更为成本有效的单次插入测试解决方案,并希望其能够解决目前正在浮现的测试挑战.随着新测试技术的出现,制造商可以运用成本经济的下一代测试平台有效解决日益严峻的闪存复杂性问题.