检索结果-南通市图书馆

电子产品世界 2003年第09B期10卷 44-45页

作者： John Chiang Integrated SiliconSolution Inc.

闪存器技术于上世纪80年代中期面世，在不到20年的时间里，就出现了迅猛增长，其应用范围从个人电脑的引导代码存储一直到近期出现的PDA、数码相机和手机中的代码和数据存储。随着移动电子的持续增长，我们对在移动电子中获得成功应用... 详细信息

闪存器技术于上世纪80年代中期面世，在不到20年的时间里，就出现了迅猛增长，其应用范围从个人电脑的引导代码存储一直到近期出现的PDA、数码相机和手机中的代码和数据存储。随着移动电子的持续增长，我们对在移动电子中获得成功应用的闪存器功能和优点进行一次回顾。

关键词：闪存器移动电子设备存储器件 NAND 性能封装

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基于闪存器的可下载固件方法(下)

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电子产品世界 2003年第03B期10卷 37-38,47页

作者：缪民

集成化编程器(接上期)微编程器方法的一种改进是把微编程器的功能集成到待升级系统中--所谓的引导装入--而不是在固件升级过程的刚开始下载到RAM中.这种策略有其优点,但也需要在闪存器芯片被擦写和重编程之前将编程器的代码从闪存器拷贝... 详细信息

集成化编程器(接上期)微编程器方法的一种改进是把微编程器的功能集成到待升级系统中--所谓的引导装入--而不是在固件升级过程的刚开始下载到RAM中.这种策略有其优点,但也需要在闪存器芯片被擦写和重编程之前将编程器的代码从闪存器拷贝到RAM中.换句话说,在操作中的某些点,代码必须把自身重新放置到RAM中,以擦除闪存器并进行写入操作.这种方法也要求所调用的代码是与位置无关的.

关键词：微编程器定位断电灾难避免闪存器可下载固件

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德州仪器推出业界首款应用于严苛环境的4MB闪存器

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电子质量 2012年第12期 49-50页

日前，德州仪器（TI）宣布推出业界首款应用于严苛环境的高温非易失性（nonvolatile）闪存器，该SM28VLT32-HT、具有4MBI：作容量，无需对产品规格：朽规范以外的温度范闻进行工业级组件的昂贵上筛选（up—screening）及认证测试。该器... 详细信息

日前，德州仪器（TI）宣布推出业界首款应用于严苛环境的高温非易失性（nonvolatile）闪存器，该SM28VLT32-HT、具有4MBI：作容量，无需对产品规格：朽规范以外的温度范闻进行工业级组件的昂贵上筛选（up—screening）及认证测试。该器件不但可在极端温度下记录数据，

关键词：德州仪器闪存器环境应用极端温度非易失性认证测试产品规格

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德州仪器推出应用于严苛环境的闪存器

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电子制作 2013年第1期21卷 3-3页

德州仪器（TI）宣布推出应用于严苛环境的高温非易失性（nonvoIatiIe）闪存器，该SM28VLT32-HT具有4MB工作容量，无需对产品规格书规范以外的温度范围进行工业级组件的昂贵上筛选（UP—screening）及认证测试。该器件不但可在极端温度... 详细信息

德州仪器（TI）宣布推出应用于严苛环境的高温非易失性（nonvoIatiIe）闪存器，该SM28VLT32-HT具有4MB工作容量，无需对产品规格书规范以外的温度范围进行工业级组件的昂贵上筛选（UP—screening）及认证测试。该器件不但可在极端温度下记录数据，还可确保在油气勘探、重工业以及肮空等严苛应用环境中工作至少2000小时。

关键词：德州仪器闪存器环境应用非易失性工作容量认证测试温度范围

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亚迅AS726闪存器

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个人电脑 2004年第3期10卷 140-140页

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下一代测试系统化解闪存复杂性问题

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中国集成电路 2004年第11期13卷 70-75页

作者： Thomas Trexler 许伟达科利登系统有限公司

随着移动电话和掌上计算机等个人电子设备需求的驱动,闪存器件已经通过快速发展,迈上了更高的容量和性能水平.今天,半导体制造厂商发现,对更为先进的闪存产品的需求与日俱增,其交付方式或为独立的闪存器件,或者作为拥有逻辑电路的内核,... 详细信息

随着移动电话和掌上计算机等个人电子设备需求的驱动,闪存器件已经通过快速发展,迈上了更高的容量和性能水平.今天,半导体制造厂商发现,对更为先进的闪存产品的需求与日俱增,其交付方式或为独立的闪存器件,或者作为拥有逻辑电路的内核,嵌入单芯片器件中,或与微控器、逻辑或静态内存共同出现在芯片中.对闪存制造商来说,要想在这些高度竞争的市场中取得成功,就要求它们能够严格控制测试成本,尽管器件本身正日趋复杂.由于闪存在大小尺寸、速度和复杂性方面都在不断增加,制造商正在寻求更为成本有效的单次插入测试解决方案,并希望其能够解决目前正在浮现的测试挑战.随着新测试技术的出现,制造商可以运用成本经济的下一代测试平台有效解决日益严峻的闪存复杂性问题.