将汽车IC中的闩锁敏感度降至最低
Minimizing Latch-Up Sensitivities in Automotive ICs作者机构：安森美半导体
出 版 物：《世界电子元器件》 (Global Electronics China)
年 卷 期：2008年第7期
页 面：26-28页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
主 题：汽车应用 闩锁 敏感度 IC 半导体供应商 设计人员 保护结构 实践方法
摘 要：对于半导体供应商而占,要对汽车应用的新JC设计进行合格验证,通过闩锁免疫性测试是一项挑战。芯片设计人员可能需要在裸片上增加关键晶体管的物理间隔,但实际上,此举不会带来任何明显的好处,在某些情况下甚至还可能产生某些副作用。理解其原因以及如何预测闩锁阈值，就可以应用有效的布线技巧和保护结构，满足闩锁免疫目标的最佳实践方法。
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