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化合物半导体材料的正电子寿命计算

Calculation of positron lifetime of compound semiconductors

作     者:陈祥磊 张杰 杜淮江 周先意 叶邦角 Chen Xiang-Lei;Zhang Jie;Du Huai-Jiang;Zhou Xian-Yi;Ye Bang-Jiao

作者机构:中国科学技术大学近代物理系合肥230026 

出 版 物:《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期:2010年第59卷第1期

页      面:603-608页

核心收录:

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

基  金:国家自然科学基金(批准号:10675114 10835006)资助的课题~~ 

主  题:半导体 正电子寿命 

摘      要:在局域密度理论(LDA)和广义梯度理论(GGA)的基础上计算了ZnO,GaN,GaAs,SiC和InP五种化合物半导体材料中的正电子湮没信息,包括化合物半导体材料中的自由态正电子的湮没寿命;还有不同类型空位(单空位,双空位)附近俘获的束缚态正电子密度分布和湮没率分布,以及束缚态正电子的湮没寿命.

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