宏观内应力掠入射衍射分析中X射线折射作用引入的误差
Data Error Due to X-ray Refraction in Residual Stress Analysis by Grazing-incidence Diffraction作者机构：中国工程物理研究院电子工程研究所绵阳621900
出 版 物：《人工晶体学报》 (Journal of Synthetic Crystals)
年 卷 期：2018年第47卷第7期
页 面：1450-1456,1462页
核心收录：
学科分类：0817[工学-化学工程与技术] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学]
基 金：中国工程物理研究院科学发展重点基金(2014A0302012)
主 题：宏观内应力 掠入射X射线衍射(GIXRD) 折射 误差
摘 要：宏观内应力X射线掠入射衍射分析中,X射线折射作用引入的衍射角测定误差必然对分析产生影响。本文基于数值方法计算了Euler角定位及Hauk角定位的X射线掠入射衍射分析中因X射线折射作用引入的衍射角测定误差及其在几种宏观内应力测试方法中引入的应变测定误差。在一定角度范围内采用侧倾法可避免X射线折射作用引入的应变测定误差,而采用侧倾法及固定X射线有效穿透深度的Ψ-Ω法测试时必须对测定结果进行数据修正。
维普期刊数据库
同方期刊数据库