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载流子寿命与高压晶闸管反向恢复特性的关系

Correlations Between Carrier Lifetime and Reverse Recovery Characteristics of High Power Thyristors

作     者:岳珂 孙玮 刘隆晨 孔德志 庞磊 张乔根 YUE Ke;SUN Wei;LIU Longchen;KONG Dezhi;PANG Lei;ZHANG Qiaogen

作者机构:西安交通大学电气设备电气绝缘国家重点实验室西安710049 武夷学院武夷山354300 国网四川省电力公司电力科学研究院成都610072 

出 版 物:《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期:2017年第43卷第12期

页      面:3944-3949页

核心收录:

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 080802[工学-电力系统及其自动化] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:直流输电 晶闸管 反向恢复 晶闸管阀 暂态特性 载流子寿命 

摘      要:掌握晶闸管反向恢复特性对改进晶闸管换流阀电压分布、降低换相失败具有重要意义。为研究晶闸管的反向恢复特性,文中从外部电路条件和内部物理设计参数两个方面,通过实验方法对高压晶闸管的反向恢复特性作了较为深入的探讨。实验研究了工频电流对高压晶闸管反向恢复过程的影响,并将器件的外特性与内部物理过程相联系,通过分析反向恢复时间与载流子寿命的关系,得到少数载流子(简称少子)寿命对高压晶闸管反向恢复特性的影响规律,并分析了反向恢复特性对晶闸管阀暂态特性的影响。结果表明,在正弦电流波形和大注入的情况下,少子寿命与反向恢复存储时间相近;影响反向恢复特性的主要因素是少子寿命,高压晶闸管串联应满足少子寿命相等或近似的条件。

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