H2O,H2S与双卤分子间相互作用的电子密度拓扑研究
Topological Studies of Electron Density on the Interaction between H_2O or H_2S and Dihalogen Molecules作者机构:河北师范大学计算量子化学研究所石家庄050016
出 版 物:《化学学报》 (Acta Chimica Sinica)
年 卷 期:2008年第66卷第4期
页 面:413-418页
核心收录:
学科分类:081704[工学-应用化学] 07[理学] 070304[理学-物理化学(含∶化学物理)] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0703[理学-化学]
基 金:国家自然科学基金(No.20573032) 河北省自然科学基金(No.B2006000137) 河北师范大学博士基金(No.L2005B12)资助项目
摘 要:运用量子化学微扰理论MP2和密度泛函B3LYP方法,采用6-311++G(d,p)基组,对H2O,H2S与双卤分子XY(XY=F2,Cl2,Br2,ClF,BrF,BrCl)形成的卤键复合物进行构型全优化,并计算得到了这些体系的分子间相互作用能.利用电子密度拓扑分析方法对卤键复合物的拓扑性质进行了分析研究,探讨了该类分子间卤键的作用本质.结果表明,形成卤键后,作为电子受体的双卤分子X—Y键长增长,振动频率减小.复合物体系中的卤键介于共价键与离子键之间,偏于静电作用成分为主.