聚氯乙烯绝缘电缆等温老化的数学模型

作     者：边一 

出 版 物：《光纤与电缆及其应用技术》 (Optical Fiber & Electric Cable and Their Applications)

年 卷 期：1991年第6期

页      面：41-45页

主　　题：聚氯乙烯塑料 评估值 数学模型 试验模型 最小二乘法 最小二乘算法 计算方法 方程组 联立方程 增塑剂 防软剂 塑料助剂 

摘      要：为了描述聚氯乙烯塑料等温老化过程,曾运用了下述数学模型: m=m;exp（一Kt;） （1）式中m=m（t）及m;=m（O）——分别为聚氯乙烯塑料试样的当时质量及初始质量（克）;K——增塑剂解吸速率(C;);t——时间（s）,x=0.625。该数学模型是以通过最小二乘法的评估值（m’0,K’）求得实验数据的全苏标准OCT 16.0.800.305-84（附录7）为基础的。但是,对于有些型号的聚氯乙烯塑料来说,该模型则不是十分精确。现举例说明之。图1～3显示的实验数据,是根据非填充的H40-13A型聚氯乙烯（标准）试样（配方8/2,ΠT-1）,增塑剂含量过多的AΠB型一段导线（ΠT-2）以及填充的ИM-30-9型聚氯乙烯试样（ΠT-3）等温老化时测得的。