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银纳米线中五次孪晶结构的透射电镜研究

Transmission electron microscopy study of five-fold twinned Ag nanowires

作     者:陈寒元 高燕 张怀若 虞红春 刘立宝 田焕芳 谢思深 李建奇 

作者机构:中国科学院物理研究所北京电子显微镜实验室北京100080 中国科学院物理研究所先进材料与结构实验室北京100080 

出 版 物:《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)

年 卷 期:2004年第23卷第4期

页      面:389-389页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学] 

基  金:国家自然科学基金委"杰出青年基金"资助项目 (No .10 2 2 5 415 ) 

主  题:银纳米线 五次孪晶 透射电子显微镜 纳米材料 

摘      要:五次孪晶结构是一个典型的结构问题.过去人们深入研究了纳米团簇(颗粒)中的多重孪晶现象[1].但关于金属纳米线中的五次孪晶结构[2],特别是孪晶晶界和孪晶关系的问题尚有待深入研究.本文对Ag纳米线中的五次孪晶结构进行了透射电镜研究.

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