NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用

作     者：王今雨 安健 王龙翔 唐新龙 丁跃 陈睿佳 WANG Jinyu;AN Jian;WANG Longxiang;TANG Xinlong;DING Yue;CHEN Ruijia

作者机构：西安交通大学计算机科学与技术学院陕西西安710049 西安邮电大学计算机学院陕西西安710061 

出 版 物：《实验技术与管理》 (Experimental Technology and Management)

年 卷 期：2024年第41卷第2期

页      面：186-192页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家重点研发计划项目(2022YFB3305503) 陕西省重点研发一般项目(2023-YBGY-403) 河南省重点研发项目(201300210400HZ) 

主　　题：实验设备 闪存可靠性 数字电路设计 FPGA 

摘      要：为满足NAND闪存芯片性能和可靠性量化分析与测试的教学实验需求,自研NAND闪存可靠性验证实验设备,基于该设备构建了NAND闪存可靠性验证实验平台。平台支持软硬件构建过程测试和结果分析等相关实验内容,并通过实例测试验证了其实用性。平台可覆盖计算机类工科本科阶段多门专业课程的课内实验、专题实验、开放创新实验、课程设计以及毕业设计等,培养学生理论结合实践、独立思考、动手解决工程问题的能力。