试论齐纳二极管早期失效对芯片可靠性的影响
作者机构：珠海格力电器股份有限公司广东珠海519070 空调设备及系统运行节能国家重点实验室广东珠海519070 珠海市运泰利自动化设备有限公司广东珠海519070
出 版 物：《中文科技期刊数据库（全文版）工程技术》
年 卷 期：2021年第10期
页 面：554-555页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：齐纳二极管广泛运用与多种集成电路产品设计中,一方面其属性为基准电压元件,可以为电路提供精准稳压电源,摆脱时间、负载等客观因素影响;另一方面齐纳二极管的运行稳定性较高,可以满足多种集成电路产品设计需求。本文针对齐纳二极管早期失效的特点进行探究,分析其在温度、时间等影响下出现了早期失效问题,并结合齐纳二极管的特点和产品可靠性要求进行分析,提出了科学使用齐纳二极管的措施建议。
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