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限定检索结果

文献类型

  • 2 篇 学位论文
  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 3 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 3 篇 工学
    • 3 篇 电子科学与技术(可...
    • 2 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 电气工程
    • 1 篇 公安技术

主题

  • 3 篇 芯片可靠性
  • 1 篇 pcb罗氏线圈
  • 1 篇 影响
  • 1 篇 演化硬件
  • 1 篇 故障修复
  • 1 篇 故障检测与定位
  • 1 篇 齐纳二极管
  • 1 篇 压接型igbt
  • 1 篇 早期失效
  • 1 篇 电流测量

机构

  • 1 篇 北京交通大学
  • 1 篇 空调设备及系统运...
  • 1 篇 大连理工大学
  • 1 篇 珠海市运泰利自动...
  • 1 篇 珠海格力电器股份...

作者

  • 1 篇 邓双敏
  • 1 篇 邵兴杰
  • 1 篇 张作明
  • 1 篇 朱伟睿
  • 1 篇 李世杰

语言

  • 3 篇 中文
检索条件"主题词=芯片可靠性"
3 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
试论齐纳二极管早期失效对芯片可靠性的影响
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中文科技期刊数据库(全文版)工程技术 2021年 第10期 554-555页
作者: 邵兴杰 朱伟睿 李世杰 珠海格力电器股份有限公司 广东珠海519070 空调设备及系统运行节能国家重点实验室 广东珠海519070 珠海市运泰利自动化设备有限公司 广东珠海519070
齐纳二极管广泛运用与多种集成电路产品设计中,一方面其属为基准电压元件,可以为电路提供精准稳压电源,摆脱时间、负载等客观因素影响;另一方面齐纳二极管的运行稳定较高,可以满足多种集成电路产品设计需求。本文针对齐纳二极管早... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
基于可重构芯片的故障智能自检测与演化修复
基于可重构芯片的故障智能自检测与演化修复
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作者: 邓双敏 大连理工大学
学位级别:硕士
随着人工智能的进一步发展,AI芯片及硬件加速器等被应用于各个领域,但是芯片在使用过程中受到外部环境的影响无法避免的会发生故障和错误。提高芯片可靠性越来越受到研究者的重视,其中芯片在复杂多变的环境进行自适应的故障自检测与... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论
用于压接型IGBT芯片的微型Rogowski Coil传感器研究
用于压接型IGBT芯片的微型Rogowski Coil传感器研究
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作者: 张作明 北京交通大学
学位级别:硕士
快速发展的社会对能源的需求日益增加,柔直流输电以其更为灵活可靠的输电方式得到广泛发展,为维护系统安全运行,对构成柔换流器的可控整流管(通常为IGBT)提出了更加严苛的要求。相比焊接式IGBT,压接型IGBT使用寿命更长,具有独特... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论