K荧光辐射场MC模拟与能谱测量分析

作     者：陈成 李晓玲 吴金杰 陈祥磊 吴荣俊 徐晓辉 朱国华 CHEN Cheng;LI Xiao-ling;WU Jin-jie;CHEN Xiang-lei;WU Rong-jun;XU Xiao-hui;ZHU Guo-hua

作者机构：武汉第二船舶设计研究所湖北武汉430064 中国计量科学研究院北京100013 

出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期：2022年第42卷第11期

页      面：3595-3600页

核心收录：

学科分类：082703[工学-核技术及应用] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术] 

基　　金：国家重点研发计划项目(2017YFC0307800)资助 

主　　题：MCNP5 ROOT 荧光装置 荧光纯度 能谱测量 

摘      要：K荧光辐射装置可填补国内超大型测量面积核辐射探测器计量检定需求,该装置具通量高、能量点多、单色性好、有成本低、即开即用等优势。其原理是X射线光机发射出的X射线轰击辐射体材料产生多种特征X射线即荧光射线,在荧光射线出射路径上加入次级过滤器吸收掉多余的射线以提高荧光纯度,辐射体以及次级过滤器的材料厚度值与荧光产额、纯度直接相关。通过MC(Monte Carlo)程序计算荧光装置各项指标参数结果,指导后期试验装置的建立和研究,MCNP5(Monte Carlo N Particle Transport Code)软件模拟Cs_(2)SO_(4)辐射体数据表明:荧光装置具有良好的屏蔽和准直的效果,荧光以辐射体中心垂直面呈对称逐渐减小分布;荧光产额随着辐射体厚度的增加逐渐增大,但存在相对饱和厚度值,即辐射体达到一定厚度值以后,荧光产额不再随辐射体厚度的增加而增大,而是趋于饱和状态;为获取单一能量荧光辐射场,在荧光出射束方向增加次级过滤器TeO_(2)材料,其吸收L,K_(β)K_(β)射线会远远大于K_(α)射线,以达到消除L,K_(β)射线保留K_(α)射线目的,形成单能的参考辐射场;在距离辐射体中心30 cm处,通过多组数据表明,次级过滤厚度为0.035 cm时,荧光纯度94.521%为最大且荧光产额最高;荧光纯度随着次级过滤器材料的厚度增加呈现先增加后逐渐减小的趋势;使用LEHGe探测器实际测量获取K荧光辐射装置能谱数据,通过ROOT程序对测量能谱数据处理和分析,拟合出K_(α)1和K_(α)2能量点的峰位道址误差小于0.005%,测量分析出其能量值与理论值偏差分别为0.19%,0.23%,测量结果与实际理论能量值相符。测量结果可验证MCNP5程序计算出的次级过滤器材料具有良好吸收效果且实现了单能荧光参考辐射场。