非晶铟镓锌氧薄膜晶体管银/钛源漏电极的研究
Ag/Ti source/drain electrodes for amorphous InGaZnO thin flim transistors作者机构:上海交通大学电子工程系TFT-LCD关键材料及技术国家工程实验室上海200240
出 版 物:《液晶与显示》 (Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays)
年 卷 期:2016年第31卷第4期
页 面:375-379页
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学]
基 金:国家自然科学基金面上项目(No.61474075) 国家自然科学基金重点项目(No.61136004)
主 题:非晶铟镓锌氧 薄膜晶体管 银电极 磁控溅射 平板显示
摘 要:为了适应大尺寸高分辨率显示的技术需求,研究并开发用于非晶铟镓锌氧(a-IGZO)薄膜晶体管(TFT)阵列的低电阻电极非常关键。本文采用磁控溅射制备的金属银为源漏电极,设计并制作了底栅结构的a-IGZO TFT器件。实验发现,具有单层银源漏电极的器件电学特性较差,这是因为银与a-IGZO之间不能形成良好的欧姆接触。另一方面,通过增加钛中间层而形成的Ag/Ti电极在保持低电阻的同时能够有效阻止银原子扩散并与a-IGZO形成较好的接触状态。最终制备的以Ag/Ti为源漏电极的a-IGZO TFT具有明显改善的电学特性,场效应迁移率为1.73cm^2/V·s,亚阈值摆幅2.8V/(°),开关比为2×10~7,由此证明了磁控溅射制备的银电极具有应用于非晶氧化物薄膜晶体管的实际潜力。