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4.5kV非对称GCT阻断电压失效分析

Blocking Voltage Failure Analysis of 4.5 kV Asymmetrical GCT

作     者:王政英 操国宏 王东东 高军 WANG Zheng-ying;CAO Guo-hong;WANG Dong-dong;GAO Jun

作者机构:新型功率半导体器件国家重点实验室湖南株洲412000 株洲中车时代半导体有限公司湖南株洲412000 

出 版 物:《电力电子技术》 (Power Electronics)

年 卷 期:2021年第55卷第2期

页      面:134-136页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:门极换流晶闸管 非对称 阻断电压 少子寿命 

摘      要:介绍了4.5 kV非对称门极换流晶闸管(GCT)阻断电压失效现象,并进行分析。通过对GCT工艺流程的梳理,找到了GCT阻断电压失效的原因。制造过程中,铝扩散工艺中受到污染导致了少子寿命的大幅降低,从而造成GCT漏电流过大的特性。最终通过在铝氧化推进工艺中引入二氯乙烯(DCE)清洗或在铝扩散后增加磷吸收工艺,解决了GCT阻断电压失效的问题。

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