检索结果-南通市图书馆

基于椭偏光谱仪的石英晶体1310nm处双折射率的精密测量

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光谱学与光谱分析 2012年第4期32卷 1142-1144页

作者：韩培高郝殿中宋连科苏富芳史萌吕廷芬吴福全李国华山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜师范大学激光研究所山东曲阜273165

为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密测量晶体双折射率的方法,并在室温(22℃)下对通讯波段1 310nm... 详细信息

为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密测量晶体双折射率的方法,并在室温(22℃)下对通讯波段1 310nm处石英晶体的双折射率进行了精密测量,测量结果和对误差的分析显示,此方法给出的双折射率测量值的精度高达10-6量级,为目前可查阅的最高精度,对于提高石英晶体相位延迟器件的设计精度具有重要的意义。

关键词：晶体光学双折射率椭偏光谱仪石英 1310nm

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基于椭偏光谱仪的石英波片光轴方位探测

光谱学与光谱分析 2013年第1期33卷 275-277页

作者：张蓓蓓韩培高付世荣朱久凯闫珂柱山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜师范大学激光研究所山东曲阜273165

波片的光轴方向是波片应用中最重要的参数之一。在椭偏光谱仪透射模式下,利用琼斯矩阵对波片旋转过程中P和S两方向上位相的变化进行分析,设计了一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此方法判断光轴方向,具有光路结构简单,检测速度快... 详细信息

波片的光轴方向是波片应用中最重要的参数之一。在椭偏光谱仪透射模式下,利用琼斯矩阵对波片旋转过程中P和S两方向上位相的变化进行分析,设计了一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此方法判断光轴方向,具有光路结构简单,检测速度快的特点,且具有很好的实用性。

关键词：光谱波片光轴相位差

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可调光程的差分偏振成像系统及其特性研究

光学学报 2017年第7期37卷 107-114页

作者：王田牛明生步苗苗韩培高郝殿中马丽丽宋连科曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室山东曲阜273165

基于Wollaston棱镜角剪切和Savart偏光镜横向剪切组合的可调光程的差分偏振干涉成像光谱系统,不仅可同时获取目标正交偏振分量的干涉图和二维空间图,而且可以通过调整Savart偏光镜的厚度,得到不同光程差下正交偏振分量的干涉图像。该系... 详细信息

基于Wollaston棱镜角剪切和Savart偏光镜横向剪切组合的可调光程的差分偏振干涉成像光谱系统,不仅可同时获取目标正交偏振分量的干涉图和二维空间图,而且可以通过调整Savart偏光镜的厚度,得到不同光程差下正交偏振分量的干涉图像。该系统的显著特点是正交图像的同时获取和光程的实时改变。描述了可调光程的差分偏振干涉成像光谱系统结构、理论原理,推导出了干涉强度表达式。详细分析了可调光程的Savart偏光镜(MSP)和可调光程的宽视场型Savart偏光镜(MWSP)的光程差及横向剪切量的变化范围。通过两种偏光镜之间的对比可得光程差差别甚微但MWSP剪切量较大,且变化量比MSP高50%。这为以后选择Savart偏光镜类型提供了重要依据。

关键词：成像系统差分偏振偏光干涉可调光程Savart偏光镜横向剪切量

借助功能阳离子实现敏化发光的铕配合物的溶剂效应的研究

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光谱学与光谱分析 2013年第9期33卷 2502-2505页

作者：付世荣史萌韩培高张蓓蓓闫珂柱山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜师范大学激光研究所山东曲阜273165

在离子缔合型铕配合物Eu(tta)***中,借助功能阳离子DEASPI的电荷转移激发态可以实现对铕离子的单光子与双光子的敏化发光,其能量传递遵循Frster机制。将Eu(tta)***溶解于多种有机溶剂中(丙酮、DMF、乙醇和乙腈),发现溶剂效应对于该能... 详细信息

在离子缔合型铕配合物Eu(tta)***中,借助功能阳离子DEASPI的电荷转移激发态可以实现对铕离子的单光子与双光子的敏化发光,其能量传递遵循Frster机制。将Eu(tta)***溶解于多种有机溶剂中(丙酮、DMF、乙醇和乙腈),发现溶剂效应对于该能量传递体系的影响非常显著。借助光谱测量,发现在乙腈溶液中能量传递效率远高于其他三种溶剂。本文对造成溶剂效应的多种因素进行了详细的分析。

关键词：溶剂效应铕配合物电荷转移激发态敏化发光

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精确测量石英晶体旋光率的光谱分析法

光谱学与光谱分析 2012年第10期32卷 2615-2619页

作者：马丽丽吴福全郝殿中苏富芳史萌曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室山东曲阜273165

提出一种精确测量石英晶体旋光率的光谱分析法。利用光学矩阵方法对测量原理进行了分析,指出通过测量由两个平行放置的偏光镜和石英晶体所组成系统的透射曲线就可以精确计算出石英晶体的旋光率;并利用分光光度计设计实验,验证了该方法... 详细信息

提出一种精确测量石英晶体旋光率的光谱分析法。利用光学矩阵方法对测量原理进行了分析,指出通过测量由两个平行放置的偏光镜和石英晶体所组成系统的透射曲线就可以精确计算出石英晶体的旋光率;并利用分光光度计设计实验,验证了该方法的正确性。对实验数据进行了处理,拟合出了旋光色散方程,对比Lowry的公式,所得出的公式在可见光范围内的更为精准。对实验数据进行了误差分析,结果表明:选取厚的石英晶体,长的测量波段、低的扫描速度、小的狭缝宽度都有利于提高测量精度。

关键词：光谱学光谱分析法旋光色散方程旋光晶体旋光率厚度误差

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光学方解石晶体温度特性

光学学报 2016年第8期36卷 259-264页

作者：吴福全吴闻迪苏富芳史萌曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室山东曲阜273165

利用热膨胀系数张量推导出光学方解石晶体(OCC)的任意方向热膨胀系数的表达式,确定了晶体的零膨胀方向;推导出晶体任意方向双折射率的温度变化量的表达式,并给出晶体中任意方向光程差随温度的变化关系。结果表明,对应方位角为65.35°或1... 详细信息

利用热膨胀系数张量推导出光学方解石晶体(OCC)的任意方向热膨胀系数的表达式,确定了晶体的零膨胀方向;推导出晶体任意方向双折射率的温度变化量的表达式,并给出晶体中任意方向光程差随温度的变化关系。结果表明,对应方位角为65.35°或114.65°的方向是OCC的零膨胀方向;温度对晶体中光程差的影响随方位角的变化而变化,在垂直于晶体光轴的方向这种影响最大。

关键词：物理光学温度特性光学方解石晶体光程差相位差

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双路四通道同时干涉成像光谱仪

光学学报 2017年第8期37卷 126-134页

作者：步苗苗牛明生王田韩培高郝殿中马丽丽宋连科曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室山东曲阜273165

双路四通道同时干涉成像光谱仪以视场光阑代替狭缝,无旋转和移动部件,通过消色差分光棱镜和Savart偏光镜将入射光分为四对相干光束,同时在探测器上获取四幅不同偏振信息的目标图像,进而利用傅里叶变换运算并对数据进行处理得到偏振光谱... 详细信息

双路四通道同时干涉成像光谱仪以视场光阑代替狭缝,无旋转和移动部件,通过消色差分光棱镜和Savart偏光镜将入射光分为四对相干光束,同时在探测器上获取四幅不同偏振信息的目标图像,进而利用傅里叶变换运算并对数据进行处理得到偏振光谱图像。分析系统结构和原理得出不同偏振状态下的干涉强度表达式,四幅干涉图相加获取目标图像的总强度,同一Savart偏光镜的干涉强度相减获得纯干涉条纹,将两纯干涉条纹进行加减运算可降低系统的背景噪声,提高了系统信噪比。在考虑晶体色散关系的基础上分析讨论了光程差随波长、入射角、入射面与晶体主截面夹角以及晶体厚度的变化,在傍轴条件下设计出横向剪切量、成像透镜焦距和晶体厚度的具体参数,实现了高光谱分辨率成像,为新型干涉成像光谱仪的设计与应用提供了一种新方案。

关键词：成像系统干涉成像光谱仪偏振分束器 Savart偏光镜光程差

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补偿调整式激光椭圆起偏器可调性及实现

中国激光 2015年第1期42卷 246-252页

作者：宋连科牛明生韩培高郝殿中马丽丽曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室山东曲阜273165

椭圆偏振器是一种非常重要的偏振态调制器件。采用线偏器与波片组合方式设计，通过各部件间方位的补偿调整来满足不同波长或椭偏度的需求，波长调整范围大，输出状态稳定，具有较高的实用价值。由偏光矩阵和邦加球理论可知，器件间方位... 详细信息

椭圆偏振器是一种非常重要的偏振态调制器件。采用线偏器与波片组合方式设计，通过各部件间方位的补偿调整来满足不同波长或椭偏度的需求，波长调整范围大，输出状态稳定，具有较高的实用价值。由偏光矩阵和邦加球理论可知，器件间方位、相位以及波长间存在着规律性关系，匹配相关条件能够影响不同波长下的偏振光状态。此设计由一个宽频透射的偏光棱镜和两个完全一致的“零级”波片组成。棱镜保证了入射光偏振方向的稳定性，波片承担了波长的选择和椭偏度的改变。研究表明材料特性限制了应用范围。云母波片设计的应用波长范围为300～1400 nm，连续调整波长范围700 nm。

关键词：光学器件偏振光学椭圆起偏器偏振光波片

氧分压对电子束蒸发TiO_2薄膜残余应力的影响

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光电子．激光 2009年第5期20卷 642-644页

作者：郝殿中王庆宋连科山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜师范大学激光研究所山东曲阜273165

采用电子束蒸发法制备了单层TiO2薄膜,控制O2流量从10mL/min以步长10mL/min递增至50mL/min(标况下)。利用ZYGO干涉仪测量基片镀膜前后的面型变化;采用Stoney公式计算出残余应力,分析了不同O2压下残余应力的变化。在本实验条件下,TiO2薄... 详细信息

采用电子束蒸发法制备了单层TiO2薄膜,控制O2流量从10mL/min以步长10mL/min递增至50mL/min(标况下)。利用ZYGO干涉仪测量基片镀膜前后的面型变化;采用Stoney公式计算出残余应力,分析了不同O2压下残余应力的变化。在本实验条件下,TiO2薄膜的应力随O2的增大,张应力先增大后减小;随O2压继续增大,由张应力逐渐过渡到压应力;O2压过大时,压应力减小。因此,可以通过改变O2压来控制薄膜的应力。应力的变化与薄膜的微观结构密切相关,分析了所有样品的X射线衍射(XRD)谱发现,薄膜结构均为非晶态。

关键词： TiO2薄膜残余应力 O2分压电子束蒸发