基于椭偏光谱仪的石英波片光轴方位探测
Determination of Optical Axis of Quartz wave Plate Based on Spectroscopic Ellipsometer作者机构：山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜师范大学激光研究所山东曲阜273165
出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)
年 卷 期：2013年第33卷第1期
页 面：275-277页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金：国家自然科学基金项目(11104160) 山东省自然科学基金项目(ZR2009GL010)资助
摘 要：波片的光轴方向是波片应用中最重要的参数之一。在椭偏光谱仪透射模式下,利用琼斯矩阵对波片旋转过程中P和S两方向上位相的变化进行分析,设计了一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此方法判断光轴方向,具有光路结构简单,检测速度快的特点,且具有很好的实用性。
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