检索结果-南通市图书馆

哈尔滨工业大学学报 1998年第1期30卷 76-79页

作者：范志刚张伟董慧莲徐进哈尔滨工业大学航天光电子与光电工程系光学教研室

分析了由于光学透射元件双面减反射膜不对称所引起的光学性能变化。以双面镀膜的平板玻璃模型为例，对ＭｇＦ２薄膜进行了数值计算和分析，得到了不同工作条件、不同要求下的双面膜厚度的许可误差容限。

关键词：双面光学透射元件反射膜非对称性

多光谱遥感图像BP网分类器学习样本选取法的研究

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红外与毫米波学报 1999年第6期18卷 449-454页

作者：于秀兰钱国蕙周建林贾晓光哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系黑龙江哈尔滨150001

通过分析多光谱遥感图像学习样本在光谱空间不同位置对BP神经网络分类器分类精度的影响,提出基于x2 分布的学习样本选取方法,并应用于TM 图像分类.对6 种地物应用不同样本选取法训练的BP网分类器和Bayes分类器的分类结果比较表明:本方... 详细信息

通过分析多光谱遥感图像学习样本在光谱空间不同位置对BP神经网络分类器分类精度的影响,提出基于x2 分布的学习样本选取方法,并应用于TM 图像分类.对6 种地物应用不同样本选取法训练的BP网分类器和Bayes分类器的分类结果比较表明:本方法分类精度明显高于Bayes分类器和其它样本选取法得到的BP网分类器。

关键词：学习样本选取 BP神经网络多光谱遥感图像

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小轻型CCD遥感相机全反射光学系统设计

光学学报 2000年第9期20卷 1268-1271页

作者：许世文付苓徐波龙夫年哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系哈尔滨150001

利用三反射镜的消像差理论 ,进行了一种小轻、大视场的全反射系统的设计。该系统通过同轴设计、离轴使用 ,使筒长达到 f′/7～ f′/9,视场达到 3°以上 ,遮光比在 6 %以下 ,像质达到衍射极限。这种系统特别适于长焦距遥感 CCD相机的应用。

关键词：全反射光学系统天文望远镜 CCD遥感相机

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计算全息光栅扫描器的研制

中国激光 2000年第10期27卷 898-902页

作者：张中华陈建新铁艳霞尚铁梁王骐哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系哈尔滨150001

给出了反射式圆盘型计算全息光栅扫描器的位相方程、条纹位置方程及参数结构方程式 ,利用新的加工工艺制作出能实现两行扫描即二维扫描的光栅 ,给出由于加工工艺的改进和设计上的充分考虑而带来的明显实验效果及达到提高一级衍射能... 详细信息

给出了反射式圆盘型计算全息光栅扫描器的位相方程、条纹位置方程及参数结构方程式 ,利用新的加工工艺制作出能实现两行扫描即二维扫描的光栅 ,给出由于加工工艺的改进和设计上的充分考虑而带来的明显实验效果及达到提高一级衍射能量和抑制零级衍射能量的目的 ,从而得出计算全息光栅扫描器的多行快速直线扫描和复制时成本低的特点能够满足有这种需要的领域 .最后分析总结出研制实用型计算全息光栅扫描器的有效途径 .

关键词：计算全息光栅扫描器衍射效率激光扫描

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相变光盘的膜层计算与分析

哈尔滨工业大学学报 1997年第5期29卷 55-58,69页

作者：鲍海飞叶水驰张军王骐哈尔滨工业大学航天电子与光电子工程系教研室

利用光学矩阵，计算了记录介质为Ｔｅ４ＧｅＳｂ２四层膜系相变光盘的光学特性参数（如反射率、透射率）及对比度与各层膜厚的关系，给出了理想的膜层厚度值，并分析了各层介质的特性及作用。

关键词：相变光盘膜层计算记录介质光盘

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硅微机械加工的削角补偿技术

哈尔滨工业大学学报 1997年第3期29卷 33-35页

作者：陈伟平王东红马国忠王贵华徐景俊哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系

通过分析硅的结晶学特性及实验考察硅各向异性腐蚀的择优腐蚀面和削角线，研究了尖角与方角的掩模补偿方案，提取了削角因子，并且给出了针对于特定腐蚀深度的最佳补偿图形及设计参数。研究结果表明该方法可对硅微机械加工中凸角腐蚀的... 详细信息

通过分析硅的结晶学特性及实验考察硅各向异性腐蚀的择优腐蚀面和削角线，研究了尖角与方角的掩模补偿方案，提取了削角因子，并且给出了针对于特定腐蚀深度的最佳补偿图形及设计参数。研究结果表明该方法可对硅微机械加工中凸角腐蚀的削角部分进行全面补偿。

关键词：微机械加工腐蚀硅削角补偿各向异性腐蚀

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分数相关尺度畸变不变模式识别特性研究

中国激光 2001年第5期28卷 429-434页

作者：韩利刘树田王骐李润顺朱帮和哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系哈尔滨150001 哈尔滨工业大学应用物理系哈尔滨150001

从理论上分析了分数相关的分数级次对相关输出面能量分布的影响 ,利用数值模拟方法 ,对分数相关尺度畸变不变模式识别特性进行了深入的讨论 ,并与传统相关器进行了比较。结果表明在尺度畸变不变模式识别中。

关键词：尺度畸变不变模式识别分数傅里叶变换光学模式识别

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转面倍率与像差系数表达式中的问题

光学学报 1996年第10期16卷 1516-1520页

作者：王鹏李润顺王志坚哈尔滨工业大学航天学院光电工程系长春光学精密机械学院光电工程系

对一百年来沿用的传统像差理论提出了新的见解和修改意见。

关键词：球差彗差正弦条件像差理论

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提高PbWO_4晶体光学性能的研究

光学学报 1997年第6期17卷 817-819页

作者：孙尚文韩爱珍李铭华徐玉恒哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系哈尔滨工业大学应用化学系

钨酸铅（ＰｂＷＯ４）晶体在生长过程中由于缺氧产生了氧空位缺陷和Ｆｅ２＋杂质缺陷，使晶体着色，光学性能下降。在晶体生长过程中掺进Ｓｂ２Ｏ３，能消除氧空位，将Ｆｅ２＋氧化为无色的Ｆｅ３＋。

关键词：晶体吸收光谱光产额钨酸铅晶体

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非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究

材料科学与工艺 1998年第3期6卷 77-80页

作者：叶水驰鲍海飞蓝幕杰王骐哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系

薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Ｓｅ薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究；利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的ＳｉＯ／Ｓｅ／ＳｉＯ的晶化做了进一步研究。结... 详细信息

薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Ｓｅ薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究；利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的ＳｉＯ／Ｓｅ／ＳｉＯ的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关，裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。

关键词：微裂纹位形坐标晶化非晶态薄膜晶化硒