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defect detection on button surfaces with the weighted least-squares model

Frontiers of Optoelectronics 2017年第2期10卷 151-159页

作者： Yu HAN Yubin WU Danhua CAO Peng YUN School of Optical and Electronic Information Huazhong University of Science and Technology Wuhan 430074 China

defect detection assurance on production lines machine-vision-based surface is important in quality This paper presents a fast defect detection method using the weighted least-squares model. We assume that an inspection image can be regarded as a combination of a defect-free template image and a residual image. The defect-free template image is generated from training samples adaptively, and the residual image is the result of the subtraction between each inspection image and corresponding defect-free template image. In the weighted least-squares model, the residual error near the edge is suppressed to reduce the false alarms caused by spatial misalignment. Experiment results on different types of buttons show that the proposed method is robust to illumination vibration and rotation deviation and produces results that are better than those of two other methods.

关键词： machine vision surface defect detection.weighted least-squares model

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