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检索条件"主题词=hump"
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Positive gate bias stress-induced hump-effect in elevated-metal metal-oxide thin film transistors
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Chinese Physics B 2017年 第12期26卷 587-590页
作者: 齐栋宇 张冬利 王明湘 Department of Microelectronics Soochow University Suzhou 215006 China
Under the action of a positive gate bias stress, a hump in the subthreshold region of the transfer characteristic is observed for the amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistor, which adopts an elevated-... 详细信息
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hump nosed viper bite in Sri Lanka-descriptive observational study of 1543 cases
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Asian Pacific Journal of Tropical Medicine 2010年 第11期3卷 902-905页
作者: Wijewantha HS Sellahewa KH National Hospital of Sri Lanka Colombo 10Sri Lanka
Objective:To identify the clinical manifestations of hump nosed viper envenomation and to recognize the available treatment methods to prevent ***:Descriptive observational study involving a series of 1 543 patients a... 详细信息
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How the camel got his hump
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新世纪智能 2019年 第15期 21-24页
作者: Rudyard Kipling 不详
现在我来讲第二个故事:骆驼背上的驼峰是怎么长出来的。世界刚诞生的时候,一切的一切都是崭新的,动物们刚刚开始为人干活儿。然而,在荒凉的沙漠中有一头骆驼,它什么活儿也不想干,时不时叫喊几声。它每天吃枯枝、红柳、乳草和荆棘,整日... 详细信息
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The chest X ray in pulmonary embolism: Westermark sign, Hampton's hump and Palla's sign. What's the difference?
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Journal of Acute Disease 2018年 第3期7卷 99-102页
作者: Tan Si Hong Shawn Lim Xin Yan Fatimah Lateef Dukes-NUS Graduate Medical School and Yong Loo Lin School of Medicine National University of Singapore DirectorSinghealth Duke NUS Institute of Medical SimulationSingapore Department of Emergency Medicine Singapore General Hospital Singapore
Pulmonary embolism (PE), with the incidence of about 60 per 100000 annually, can be a life-threatening disease if it is not treated promptly. It has been estimated that some 10% of PE patients die within the first hou... 详细信息
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Degradation of the front and back channels in a deep submicron partially depleted SOI NMOSFET under off-state stress
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Journal of Semiconductors 2013年 第7期34卷 91-96页
作者: 郑齐文 余学峰 崔江维 郭旗 丛忠超 张兴尧 邓伟 张孝富 吴正新 Xinjiang Technical Institute of Physics&Chemistry Chinese Academy of Sciences Xinjiang Key Laboratory of Electric Information Materials and Devices University of Chinese Academy of Sciences
The hot-carrier effect charactenstic in a deep submicron partially depleted SOI NMOSFET is investigated. Obvious hot-carrier degradation is observed under off-state *** hot-carrier damage is supposed to be induced by ... 详细信息
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p型多晶硅薄膜晶体管在动态负偏置温度应力下的退化研究
p型多晶硅薄膜晶体管在动态负偏置温度应力下的退化研究
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作者: 周洁 苏州大学
学位级别:硕士
本文主要研究了p型多晶硅薄膜晶体管(Thin Film Transistor, TFT )在动态负偏置温度(Negative Bias Temperature, NBT)应力下的退化特性。首次观察到了器件在动态NBT应力下的两阶段退化现象。在第一阶段Vth向正向漂移,在很长一段应... 详细信息
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