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机构

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作者

  • 1 篇 hideo fujiwara
  • 1 篇 thomas edison yu
  • 1 篇 tomokazu yoneda
  • 1 篇 danella zhao

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=embedded core testing"
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Designing Power-aware Wrappers for Multi-clock Domain cores Using Clock Domain Partitioning
Designing Power-aware Wrappers for Multi-clock Domain Cores ...
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7th Workshop on RTL and High Level testing
作者： Thomas Edison Yu Tomokazu Yoneda Danella Zhao Hideo Fujiwara Graduate School of Information Science Nara Institute of Science and Technology Kansai Science City630-0192Japan Graduate School of Information Science Nara Institute of Science and Technology Kansai Science City630-0192Japan The Center For Advanced Computer Studies University of Louisiana at Lafayette LafayetteLA70504 Graduate School of Information Science Nara Institute of Science and Technology Kansai Science City630-0192Japan
＜正＞This paper presents a method for designing power-aware test wrappers for embedded cores with multiple clock domains. We make use of partitioning of the clock domains into smaller sub-domains in combination with ... 详细信息
来源： cnki会议 评论
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