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Nonlinearity Calibration for Pipelined ADCs by Splitting Capacitors with Self-Tracking Comparator Thresholds

Chinese Journal of Electronics 2015年第3期24卷 474-479页

作者： WANG Ke FAN Chaojie PAN Wenjie ZHOU Jianjun Center for Analog/RF IC School of Microelectronics Shanghai Jiao Tong University

A digital background calibration technique which mainly corrects nonlinear errors of residue amplifiers in pipelined analog-to-digital converters(ADCs) is presented. The proposed technique extracts the nonlinear errors by splitting sampling capacitors and inserting two extra comparators, and is highly effective as long as the input signal is busy. The method of self-tracking comparator thresholds is proposed to reduce the time of convergence with low complexity for any bit cases in a pipelined ADC.Both measurement and correction are processed in digital domain. After calibration, the behavioral simulation shows that the Signal-to-noise-and-distortion ratio(SNDR) is raised from 55.4d B to 90.2d B and the Spurious-free dynamic range(SFDR) is improved from 61.6d B to 102 d B in a 16-bit prototype pipelined ADC with 0.5% capacitor mismatches and 4.5% gain compression of the residue amplifier.

关键词： Pipelined ADC Nonlinearity Background calibration residue amplifier

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