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A Test Case Generation Approach based on Sequence Diagram and Automata models
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Chinese Journal of Electronics 2016年 第2期25卷 234-240页
作者： ZHANG Chen DUAN Zhenhua YU Bin TIAN Cong DING Ming Institute of Computing Theory and Technology Xidian University School of Computer Science and Technology Xidian University School of Information and Technology Northwest University Xi’an Aeronautics Computing Technique Research Institute AVIC
To improve the test automation in software development process, following the researches on test cases generation technology from models, an incremental test case generation approach is proposed based on finite automa... 详细信息
来源： 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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