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文献类型

  • 5 篇 期刊文献

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  • 5 篇 电子文献
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  • 5 篇 工学
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    • 2 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 5 篇 march
  • 5 篇 c-算法
  • 1 篇 单粒子翻转
  • 1 篇 labview
  • 1 篇 jtag
  • 1 篇 仿真测试
  • 1 篇 sram自测试
  • 1 篇 静态存储器
  • 1 篇 sram(静态随机存储...
  • 1 篇 故障模型
  • 1 篇 单片机
  • 1 篇 存储器测试
  • 1 篇 故障覆盖率
  • 1 篇 内建自测试
  • 1 篇 bist
  • 1 篇 fpga
  • 1 篇 sram

机构

  • 1 篇 中国民航大学
  • 1 篇 电子科技大学
  • 1 篇 江南大学
  • 1 篇 北京航空航天大学
  • 1 篇 东北大学

作者

  • 1 篇 孙晓凌
  • 1 篇 张栋
  • 1 篇 邵伟
  • 1 篇 薛茜男
  • 1 篇 陈亚坤
  • 1 篇 李振
  • 1 篇 田勇
  • 1 篇 于宗光
  • 1 篇 高成
  • 1 篇 须自明
  • 1 篇 于文考
  • 1 篇 苏彦鹏
  • 1 篇 申华
  • 1 篇 王鹏

语言

  • 5 篇 中文
检索条件"主题词=C-算法"
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基于March c-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统
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电子器件 2014年 第5期37卷 803-807页
作者： 王鹏 李振 邵伟 薛茜男 中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室 天津300300 中国民航大学安全科学与工程学院 天津300300
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March c-算法的... 详细信息
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基于March c-算法的SRAM BIST电路的设计
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半导体技术 2007年 第3期32卷 245-247页
作者： 须自明 苏彦鹏 于宗光 江南大学信息工程学院 江苏无锡214000
针对某SOc中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March c-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March c-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能... 详细信息
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基于March c-算法的单片机存储器测试
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现代电子技术 2010年 第6期33卷 19-21,33页
作者： 于文考 高成 张栋 北京航空航天大学 北京100191
为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据McS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March c-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测... 详细信息
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基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现
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电子工程师 2008年 第12期34卷 57-59页
作者： 田勇 孙晓凌 申华 东北大学东软信息学院嵌入式系统工程系 辽宁省大连市116023
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March c-算法;设... 详细信息
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基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究
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单片机与嵌入式系统应用 2012年 第1期12卷 8-11页
作者： 陈亚坤 电子科技大学 成都610017
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March c-算... 详细信息
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