基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计
SRAM BIST Circuit Design Based on the March C-Algorithm作者机构:江南大学信息工程学院江苏无锡214000
出 版 物:《半导体技术》 (Semiconductor Technology)
年 卷 期:2007年第32卷第3期
页 面:245-247页
学科分类:08[工学] 081202[工学-计算机软件与理论] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)]
基 金:电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室资助项目(51433020105DZ6802)
摘 要:针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。