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Effect of multiple coulomb scattering on the beam tests of silicon pixel detectors

Nuclear Science and Techniques 2024年第4期35卷 200-207页

作者： Lan-Kun Li Ming-Yi Dong Ze Gao Liang-Cheng-Long Jin Shu-Jun Zhao School of Physics and Microelectronics Zhengzhou UniversityZhengzhou 450001China State Key Laboratory of Particle Detection and Electronics(Institute of High Energy Physics CAS)Beijing 100049China University of Chinese Academy of Science Beijing 100049China University of South China Hengyang 421001China

In the research and development of new silicon pixel detectors,a collimated monoenergetic charged-particle test beam equipped with a high-resolution pixel-beam telescope is crucial for prototype verification and performance *** the beam energy is low,the effect of multiple Coulomb scattering on the measured resolution of the Device Under Test(DUT)must be considered to accurately evaluate the performance of the pixel chips and *** study aimed to investigate the effect of multiple Coulomb scattering on the measured resolution,particularly at low beam *** were conducted using Allpix^(2) to study the effects of multiple Coulomb scattering under different beam energies,material budgets,and telescope *** simulations also provided the minimum energy at which the effect of multiple Coulomb scattering could be *** with the results of a five-layer detector system tested with an electron beam at DESY,the simulation results were consistent with the beam test results,confirming the reliability of the simulations.

关键词： Silicon Pixel Detectors beam telescope Multiple Coulomb Scattering Spatial Resolution

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