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基于可跨层重构LFSR的3D-SIC内建自测试方案
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微电子学与计算机 2024年
作者: 陈田 罗蓓蓓 刘军 鲁迎春 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室 合肥工业大学微电子学院
针对三维堆叠集成电路(3D-SIC)中测试面积开销和测试数据存储量大的问题,对于n层3D-SIC,提出了一种基于可跨层重构线性反馈移位寄存器(CLR-LFSR)的内建自测试(bist)结构。在键合中和键合后测试阶段,可以任意组合键合前测试阶... 详细信息
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bist Design for Detecting Multiple Stuck—Open Faults in CMOS Circuits Using Transition Count
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Journal of Computer Science & Technology 2002年 第6期17卷 731-737页
作者: HafizurRahaman DebeshK.Das IndianInstituteofInformationTechnology Calcutta-700106India DepartmentofComputerScienceandEngineering JadavpurUniversityCalcutta-700032India
This paper presents a built-in self-test (bist) scheme for detecting allrobustly testable multiple stuck-open faults confined to any single complex cell of a CMOS circuit.The test pattern generator (TPG) generates al... 详细信息
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A Mixed—Mode bist Scheme Based on Folding Compression
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Journal of Computer Science & Technology 2002年 第2期17卷 203-212页
作者: 梁华国 Sybille Hellebrand Hans-Joachim Wunderlich Department of Computer and Information Hefei University of Technology Hefei 230009. P.R. China Institute of Applied Computer Science University of Innsbruck Austria Institute of Computer Science University of Stuttgart Germany
In this paper a new scheme for mixed mode scan-based bist is presented with complete fault coverage, and some new concepts of folding set and computing are introduced.This scheme applies single feedback polynomial of ... 详细信息
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A novel bist scheme for circuit aging measurement of aerospace chips
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Chinese Journal of Aeronautics 2018年 第7期31卷 1594-1601页
作者: Huaguo LIANG Xiangsheng FANG Maoxiang YI Zhengfeng HUANG Yingchun LU Studio of Computer Architecture Hefei University of Technology Hefei 230009 China Anhui Institute of Economic Management Hefei 230051 China
The avionics working environment is bad, easy to accelerate aging of circuits. Circuit aging is one of the important factors that influence the reliability of avionics, so circuit aging testing is of great significanc... 详细信息
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A Test Approach for Look-Up Table Based FPGAs
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Journal of Computer Science & Technology 2006年 第1期21卷 141-146页
作者: Ehsan Atoofian Zainalabedin Navabi Department of Electrical and Computer Engineering University of Tehran 14399 Tehran Iran
This paper describes a test architecture for minimum number of test configurations in test of FPGA (Field Programmable Gate Array) LUTs (Look Up Tables). The test architecture includes a TPG (Test Pattern Genera... 详细信息
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A 10 Gsps 8 bit digital-to-analog converter with a built-in self-test circuit
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Journal of Semiconductors 2013年 第12期34卷 97-101页
作者: 周磊 吴旦昱 江帆 金智 刘新宇 Institute of Microelectronics Chinese Academy of Sciences
We present a 10 Gsps 8 bit digital-to-analog converter (DAC) with a novel built-in self-test (bist) circuit, which makes it possible to evaluate the DAC's performance without a complicated test setup. Design con-... 详细信息
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HYBRID OPTICAL bistABILITY IN FABRY-PEROT INTERFEROMETER CONTAINING PLASMA
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Chinese Physics Letters 1987年 第3期4卷 129-132页
作者: 钟权德 Institute of Physics Academia SinicaBeijing
A hybrid optical bistable system of a plasma in a Fabry-Perot interferometer driven by a single-mode cw laser is proposed.The general expressions of the mirvimum change of the electron density for optical bistabili.ty... 详细信息
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A Built-in Test Scheme for Pipelined Multipliers and Dividers
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湖南大学学报(自然科学版) 2000年 第S2期27卷 31-45页
作者: Hao-Yung Lo1, Tsin-Yuan Chang1, Hsiu-Feng Lin, Chichyang Chen, Jenshiuh Liu, Chia-Cheng Liu, Jian Houng Lee, Jung-Shiarn Shie, Shin Shing Chen, Pi Cheng Chang, Web Ming Cho, Jyh Ho Houng, Miin-Shyue Shiau, and Chih-Hung Yang Institute of Information Engi
An embedded test pattern generator scheme in large-operand multiplier and divider is presented by applying simple digital circuit. This scheme is based on the generation of cyclic code polynomials from a characterized... 详细信息
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基于bist软件测试思想的单元测试框架
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计算机工程 2005年 第17期31卷 92-94页
作者: 杨艳芳 徐拾义 上海大学计算机学院 上海200072
bist是一种成熟的硬件可测性设计的方法,bist软件测试思想则借用了该技术,它主要包括模板和自治测试部分两大基本结构。在该思想的指导下,整合测试用例、测试点、插装函数、测试报告等测试要素,提出了各个要素的存储或使用方式,以路径... 详细信息
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嵌入式SRAM测试算法及其诊断实现
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计算机辅助设计与图形学学报 2010年 第5期22卷 865-870页
作者: 陈则王 苏建华 王友仁 南京航空航天大学自动化学院 南京210016
为有效定位和识别嵌入式静态随机访问存储器(SRAM)中的各种故障,改进SRAM的设计和生产流程,提出一种有效的March19N(N表示存储器的深度)测试算法.把故障注入64×8位的SRAM;再将测试算法的读/写操作转化为控制器的控制状态,并设计带诊断... 详细信息
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