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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 计算机科学与技术...

主题

  • 1 篇 高温存储实验
  • 1 篇 可靠性测试
  • 1 篇 加速

机构

  • 1 篇 北京中电华大电子...

作者

  • 1 篇 蒋玉茜
  • 1 篇 李子超

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=高温存储实验"
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高温存储寿命试验加速方法研究
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中国集成电路 2023年 第10期32卷 83-86,91页
作者： 李子超 蒋玉茜 北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室
半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给非易失性存储器可靠性带来挑战。非易失性存储器可靠性测试与评价越来越重要。高温存储寿命试验是智能卡芯片非易失性存储器可靠性测试中的关键测试项目。针对产品不同项目阶段的可靠性验证需求... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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