高温存储寿命试验加速方法研究
Research on high-temperature Storage Life Test Acceleration Method作者机构：北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室
出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)
年 卷 期：2023年第32卷第10期
页 面：83-86,91页
学科分类：08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
摘 要：半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给非易失性存储器可靠性带来挑战。非易失性存储器可靠性测试与评价越来越重要。高温存储寿命试验是智能卡芯片非易失性存储器可靠性测试中的关键测试项目。针对产品不同项目阶段的可靠性验证需求,特别是工程批次需要更快速获得可靠性验证结果,可靠性验证周期优化需求也更加迫切。为了更加快速地评价产品高温存储寿命,本文介绍了高温存储寿命实验的加速测试方法,该方法保证了验证质量和效果,显著缩短评价周期,更节约测试资源。
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