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文献类型

  • 2 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 2 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 2 篇 边界扫描设计
  • 1 篇 jtag
  • 1 篇 系统芯片
  • 1 篇 存储器测试
  • 1 篇 扫描链
  • 1 篇 可测性设计
  • 1 篇 边界扫描技术

机构

  • 1 篇 中国人民解放军91...
  • 1 篇 中国电子科技集团...

作者

  • 1 篇 于秀金
  • 1 篇 魏敬和
  • 1 篇 王永岭
  • 1 篇 杨兵
  • 1 篇 虞致国
  • 1 篇 王国章
  • 1 篇 曹亮杰
  • 1 篇 王志林

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=边界扫描设计"
共 2 条 记 录，以下是1-10 订阅
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边界扫描技术在故障信息处理中的应用
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西安邮电学院学报 2010年 第3期15卷 47-50页
作者： 王志林 于秀金 王永岭 曹亮杰 中国人民解放军91245部队
边界扫描技术广泛应用于电路可测试性设计,在故障信息处理测试设计中尝试融入边界扫描技术,采用扫描器件直接替换、扫描结构置入等方法。通过仿真试验表明该设计方法可行,经过系统硬件测试,证明边界扫描技术能够有效提高故障信息处理能力。
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
SOC芯片DFT研究与设计
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电子与封装 2009年 第1期9卷 28-31,45页
作者： 杨兵 魏敬和 王国章 虞致国 中国电子科技集团公司第58研究所 无锡214035
文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理,包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架... 详细信息
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