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基于薄膜电阻的波导E-T结功率分配/合成器
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红外与毫米波学报 2017年 第1期36卷 114-119页
作者: 王斌 田兵 汪春霆 中国电子科技集团公司第54研究所 河北石家庄050081
单个器件输出功率不满足系统要求时,功率合成技术是提高系统输出功率的有效方法.本文详细研究了基于薄膜电阻的波导E-T结功率分配/合成器,最终设计了一种新型的基于薄膜电阻的波导E-T结.该结构具有高隔离度、低插入损耗、小体积、宽频... 详细信息
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微型热敏传感器的薄膜电阻设计研究
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中国机械工程 2005年 第Z1期16卷 202-204页
作者: 刘奎 苑伟政 邓进军 马炳和 姜澄宇 西北工业大学 西安710072 西北工业大学西安710072 西北工业大学西安710072 西北工业大学西安710072 西北工业大学西安710072
应用微型热敏传感器薄膜电阻电阻温度系数设计方法,得到基于热敏电阻电阻温度系数的计算和设计参数.结合针对流体壁面剪应力测量的应用要求,分析多晶硅和铂金属热敏电阻的优缺点,并且对试验电阻进行电阻温度系数和时间常数的分析计... 详细信息
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薄膜电阻加热器的高精度温控
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红外与激光工程 2001年 第2期30卷 131-133页
作者: 黎全 钟钦 林亚风 魏文俭 邓立新 陈前荣 国防科技大学理学院光电工程系 湖南长沙410073
文中介绍了用掺锡的氧化铟导电膜作为加热方式并采用比例积分微分方式通过A D卡输出电平控制加热电压 ,实现高精度温控 ,重点是针对小热容加热体的特点采用相应的措施通过比例积分微分控制实现精确控温。初步研制成了高发射率、可持续... 详细信息
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薄膜电阻应变传感器中的绝缘隔离
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真空 1994年 第2期31卷 6-8页
作者: 黄蕙芬 东南大学电子工程系
木文介绍了薄膜电阻应变传感器中作为绝缘隔离层的双层介质膜的制备方法及其绝缘特性.
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薄膜电阻湿热老化失效机理分析及封装材料耐温耐湿性能研究
薄膜电阻湿热老化失效机理分析及封装材料耐温耐湿性能研究
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作者: 吴植文 华南理工大学
学位级别:硕士
薄膜电阻作为一种重要的电子元器件,被大量应用在电子产品中,而其在高温、高湿的环境下容易失效,造成电路的工作异常。因此研究薄膜电阻在高温高湿下的失效机理对提高薄膜电阻的可靠性和延长其使用寿命具有重要意义。本文对在85℃和85%... 详细信息
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碳纳米管薄膜电阻的热敏特性测试
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西安交通大学学报 2003年 第8期37卷 876-877页
作者: 朱长纯 马强 田昌会 西安交通大学电子与信息工程学院 西安710049
针对单根碳纳米管测试的困难,用丝网印刷的方法制作了一种碳纳米管薄膜电阻.测量其热敏特性表明:其阻值随温度有明显的变化,并具有线性关系,通过线性拟合计算得到其电阻率温度系数为-4 79×10-6Ω·m/℃.研究结果表明,碳纳米管可望作为... 详细信息
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LCP柔性基板的薄膜电阻制作技术
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微纳电子技术 2021年 第2期58卷 170-176页
作者: 丁蕾 罗燕 刘凯 陈韬 王立春 上海航天电子技术研究所 上海201109
针对液晶聚合物(LCP)柔性基板高频电子封装应用需求,采用一种薄膜溅射工艺直接在LCP柔性基板上制作TaN薄膜电阻,研究不同等离子体预处理方式对LCP表面形貌和LCP表面薄膜金属膜层附着强度的影响,进一步研究溅射气压和氮气体积分数等参数... 详细信息
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真空变温薄膜电阻测试仪器的设计与应用
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物理实验 2011年 第1期31卷 28-30,33页
作者: 朱亚彬 魏敏建 何帆 刘依真 王保军 陈志杰 北京交通大学理学院物理实验中心 北京100044
设计了自制真空变温薄膜电阻测试仪器,可以实现粗真空条件下,从室温到300℃的四探针法薄膜电阻测试.该仪器适用于开展薄膜物性与电阻和温度相关的实验,例如,金属与半导体薄膜的温度-电阻特性实验,二氧化钒薄膜热滞效应实验等.
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基于薄膜电阻的新型光纤电流传感器的研究
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仪表技术与传感器 2016年 第4期 8-10页
作者: 贾丹平 高浠萌 王大力 沈阳工业大学信息科学与工程学院 辽宁沈阳110870 沈阳新杉电子工程有限公司 辽宁沈阳110016
为了满足电力需求,在高压直流输电技术的基础上,提出了基于薄膜电阻的新型无源光纤电流传感器的设计方案。在实验室条件下,为金属薄膜电阻选取合适的性能参数,利用有限元热分析ANSYS软件对传感器部分进行建模分析,搭建实验平台,根据荧... 详细信息
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基于薄膜电阻的风动压检测系统
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传感器与微系统 2021年 第5期40卷 111-113页
作者: 田俊琦 秦会斌 华咏竹 杭州电子科技大学新型电子器件与应用研究所 浙江杭州310018
针对风动压检测,提出一种基于薄膜电阻检测风动压的方法。根据热平衡方程将薄膜电阻阻值转换成空气流速,风动压可通过伯努利方程转换空气流速获得。利用数字滤波去除采集到的异常数据,结合施密斯补偿去除传感器检测过程中的延迟,从而得... 详细信息
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