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中国循环杂志 2024年第8期39卷 781-784页

作者：苑翠珍昃峰李鼎段江波吴寸草何金山周旭王龙李学斌北京大学人民医院心内科北京100044

目的:评估没有起搏指征的静脉埋藏式心脏复律除颤器(TV-ICD)患者经静脉导线拔除(TLE)后植入全皮下埋藏式心脏复律除颤器(S-ICD)的安全性和有效性。方法:连续纳入2018年6月至2023年10月于北京大学人民医院行TLE后再植入S-ICD的所有患者... 详细信息

目的:评估没有起搏指征的静脉埋藏式心脏复律除颤器(TV-ICD)患者经静脉导线拔除(TLE)后植入全皮下埋藏式心脏复律除颤器(S-ICD)的安全性和有效性。方法:连续纳入2018年6月至2023年10月于北京大学人民医院行TLE后再植入S-ICD的所有患者。统计并分析TLE指征、S-ICD植入适应证、除颤阈值(DFT)测试、并发症及术后随访情况。结果:共有11例TV-ICD患者在TLE后接受了S-ICD植入,男性8例,中位年龄56(44,65)岁。TLE的指征为感染和导线功能障碍。ICD二级预防的有9例患者,最常见的植入原因是离子通道疾病(5例)。S-ICD的手术时间为51(48,58)min,未发现围术期并发症。8例患者进行了DFT测试,全部成功。在中位30(9,39)个月的随访中,2例患者共发生6次适当的治疗,无并发症发生,包括不适当的治疗、无效治疗、感染、导线故障和死亡。结论:本研究为S-ICD作为TV-ICD移除后的替代提供了依据。TLE后植入S-ICD是安全有效的。

关键词：埋藏式心脏复律除颤器全皮下埋藏式心脏复律除颤器经静脉导线拔除

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经静脉途径拔除心脏植入型电子装置电极导线的回顾性分析

经静脉途径拔除心脏植入型电子装置电极导线的回顾性分析

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作者：亚库普江·麦麦提新疆医科大学

学位级别：硕士

目的:分析经静脉电极拔除患者导线结果并筛选出现并发症危险因素。方法:回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院,因各种原因行经静脉拔除电极导线患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛选出现并发... 详细信息

目的:分析经静脉电极拔除患者导线结果并筛选出现并发症危险因素。方法:回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院,因各种原因行经静脉拔除电极导线患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛选出现并发症的危险因素。结果:经TLE术的69例患者中,年龄65(58～75.5)岁,女性占41.9%。其中囊袋感染20(29%)例,参数异常或者升级CIED装置18(26.1%)例,电极相关性并发症36(44.9%)例,总共拔除94根导线,导线植入年限为19.00(5.0,95.50)个月,最长植入时长314个月。电极完全拔除成功率为97.1%,临床拔除成功率为100%。有6例患者拔除中出现并发症,并发症发生率8.7%。单因素和多因素logistics回归分析显示初始电极植入时间≥10年会增加。TLE术并发症发生的风险(OR=9.054 95%CI 1.214～67.518,P=0.032)。结论:TLE术是目前处理CIED电极相关并发症主要的手段,安全性及有效性较高。CIED初始电极植入时间≥10年会增加TLE术并发症发生的风险。

关键词：心脏植入型电子装置经静脉导线拔除并发症

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经静脉途径拔除心脏植入型电子装置电极导线的回顾性分析

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中国心脏起搏与心电生理杂志 2023年第4期37卷 306-310页

作者：亚库普江·麦麦提周贤惠新疆医科大学第一附属医院心脏中心起搏电生理科、新疆心电生理与心脏重塑重点实验室新疆乌鲁木齐830054

目的分析经静脉拔除(TLE)心脏植入型电子装置(CIED)电极导线结果并筛选出并发症的危险因素。方法回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院,因各种原因行TLE患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛... 详细信息

目的分析经静脉拔除(TLE)心脏植入型电子装置(CIED)电极导线结果并筛选出并发症的危险因素。方法回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院,因各种原因行TLE患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛选出并发症的危险因素。结果经TLE术的69例患者中,年龄65(58,75.5)岁,女性占44.9%。其中囊袋感染20例,参数异常或者升级CIED装置18例,电极相关并发症31例,总共拔除94根导线,导线植入年限为19.00(5.0,95.50)个月,最长植入时长314个月。电极完全拔除成功率为97.1%,临床拔除成功率为100%。6例患者拔除中出现并发症,总体并发症发生率8.7%,严重并发症发生率为1.4%。单因素和多因素logistics回归分析显示初始电极植入时间≥10年会增加TLE术并发症发生风险(OR=9.054,95%CI 1.214~67.518,P=0.032)。结论 TLE是处理CIED电极相关并发症主要的手段,安全性及有效性较高。CIED初始电极植入时间≥10年会增加TLE并发症发生风险。

关键词：心血管病学心脏植入型电子装置经静脉导线拔除并发症

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联合上下腔静脉途径心血管植入型电子器械导线拔除回顾性分析

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中华心律失常学杂志 2020年第1期24卷 60-65页

作者：翁思贤唐闽任晓庆冯天捷马亚哲周彬华伟陈柯萍张澍中国医学科学院北京协和医学院国家心血管病中心心血管疾病国家重点实验室阜外医院心律失常中心 100037

目的回顾性分析单中心近年来联合上腔和下腔途径心血管植入型电子器械(CIED)导线拔除术(TLE)的病例特点,探究其与单纯上腔或下腔途径拔除CIED导线病例的不同之处。方法连续入选2011年1月至2018年9月于阜外医院心律失常中心行TLE患者159... 详细信息

目的回顾性分析单中心近年来联合上腔和下腔途径心血管植入型电子器械(CIED)导线拔除术(TLE)的病例特点,探究其与单纯上腔或下腔途径拔除CIED导线病例的不同之处。方法连续入选2011年1月至2018年9月于阜外医院心律失常中心行TLE患者159例。将其依据TLE时血管入路途径分成2组:A组为单纯经上腔或下腔途径拔除组(132例);B组为联合上腔和下腔途径拔除组(27例)。对比2组患者基线资料特点、CIED植入类型、导线拔除情况等。结果与A组相比,B组CIED植入时间更长、既往囊袋清创史和CIED更换史比例更高(P静脉TLE者有独立预测价值;CIED植入时间≥5.25年时,其敏感度和特异度分别为74.1%和67.4%。2组患者共计拔除导线301根:A组拔除249根,B组拔除52根,总体临床成功率为95.2%;其中B组拔除成功率更低(86.7%对97.3%,P=0.002)、严重并发症率更高(18.5%对1.5%,P=0.002)。结论对于CIED植入时间≥5.25年者预示着其需要联合上下腔静脉途径行TLE。对于联合上下腔静脉途径行TLE患者,其成功率较单纯上腔或下腔途径更低,且严重并发症发生率更高。

关键词：起搏器,人工经静脉导线拔除联合感染

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