经静脉途径拔除心脏植入型电子装置电极导线的回顾性分析

作     者：亚库普江·麦麦提 

作者单位：新疆医科大学 

学位级别：硕士

导师姓名：周贤惠

授予年度：2023年

学科分类：1002[医学-临床医学] 100201[医学-内科学(含：心血管病、血液病、呼吸系病、消化系病、内分泌与代谢病、肾病、风湿病、传染病)] 10[医学] 

主      题：心脏植入型电子装置 经静脉导线拔除 并发症 

摘      要：目的:分析经静脉电极拔除患者导线结果并筛选出现并发症危险因素。方法:回顾性分析2016年1月至2021年12月就诊于新疆医科大学第一附属医院,因各种原因行经静脉拔除电极导线患者的临床资料。通过向前逐步logistics回归分析筛选出现并发症的危险因素。结果:经TLE术的69例患者中,年龄65(58～75.5)岁,女性占41.9%。其中囊袋感染20(29%)例,参数异常或者升级CIED装置18(26.1%)例,电极相关性并发症36(44.9%)例,总共拔除94根导线,导线植入年限为19.00(5.0,95.50)个月,最长植入时长314个月。电极完全拔除成功率为97.1%,临床拔除成功率为100%。有6例患者拔除中出现并发症,并发症发生率8.7%。单因素和多因素logistics回归分析显示初始电极植入时间≥10年会增加。TLE术并发症发生的风险(OR=9.054 95%CI 1.214～67.518,P=0.032)。结论:TLE术是目前处理CIED电极相关并发症主要的手段,安全性及有效性较高。CIED初始电极植入时间≥10年会增加TLE术并发症发生的风险。