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  • 1 篇 上海市计量测试技...
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  • 1 篇 中国科学院上海应...
  • 1 篇 中国计量学院

作者

  • 9 篇 胡小唐
  • 7 篇 傅星
  • 7 篇 李源
  • 6 篇 郭彤
  • 5 篇 陈津平
  • 3 篇 栗大超
  • 2 篇 吴俊杰
  • 2 篇 邹子英
  • 2 篇 雷李华
  • 2 篇 张国雄
  • 2 篇 傅云霞
  • 2 篇 朱振宇
  • 2 篇 胡晓东
  • 1 篇 卢歆
  • 1 篇 赵大博
  • 1 篇 谢初南
  • 1 篇 赵俊
  • 1 篇 袁方
  • 1 篇 李华丰
  • 1 篇 刘一

语言

  • 20 篇 中文
检索条件"主题词=纳米测量机"
20 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
基于MEMS微触觉测头和纳米测量机的扫描测量平台
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仪器仪表学报 2009年 第3期30卷 580-585页
作者: 李源 孙薇斌 邵力 傅星 栗大超 胡小唐 上海市计量测试技术研究院 上海201203 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
将自主开发的基于MEMS工艺的微触觉测头与纳米坐标测量平台相结合,构建高性能的扫描测量平台,提高了微结构和器件扫描测量的精度和分辨力。基于微触觉测头的测量原理,研究了微触觉测头应用于纳米坐标测量平台的反馈控制方法以及控制转... 详细信息
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利用纳米测量机实现大范围的计量型原子力显微镜
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计量学报 2005年 第1期26卷 1-4页
作者: 郭彤 傅星 陈津平 胡晓东 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
利用纳米测量机(NMM)和原子力显微镜(AFM)实现了大范围的计量型AFM,测量范围可以达到25mmⅹ25mmⅹ5mm,分辨力为0.1nm。纳米测量机扩展了普通AFM测头的测量范围,减小了压电扫描器固有特性的影响。运动全范围内的自适应误差补偿通过5个自... 详细信息
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基于纳米测量机的微结构三维坐标测量
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光学精密工程 2020年 第10期28卷 2252-2259页
作者: 吴俊杰 李源 上海市计量测试技术研究院械与制造计量技术研究所 上海201203
针对当前微纳米测量中存在的微结构跨尺度、高精度测量及高深宽比结构多参数表征问题,基于纳米测量机和微接触测头构建了纳米坐标测量系统。通过对测头与定位平台械、电气及软件接口的设计,实现测头与平台的集成,并利用标准球对测量... 详细信息
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纳米测量机传感器信号显示与切换系统的设计
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自动化仪表 2012年 第1期33卷 63-65,69页
作者: 卢歆 雷李华 沈瑶琼 李源 王丽华 中国计量学院计量测试工程学院 浙江杭州310018 上海市计量测试技术研究院 上海201203
为提高纳米坐标测量机测量效率,降低因测头切换频繁引起的设备故障率,设计了一个具有测头测量信号/观察信号切换并能够实时显示测量信号电压值的装置。该装置主要以C8051F单片为核心,通过A/D转换芯片和液晶显示模块实现信号电压值... 详细信息
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应用于纳米测量机的MEMS微接触式测头的结构设计和优化
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传感技术学报 2006年 第5A期19卷 1512-1515页
作者: 李源 栗大超 胡小唐 赵大博 郭彤 陈津平 天津大学测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
为了提高MEMS微接触式测头的性能,系统开展了测头的结构设计和参数优化.根据测头结构各个部分的设计目标,提出了测头悬挂系统拓扑结构的设计方案.基于测头结构的力学模型,提出了结构参数对测头性能的影响理,并采用有限元方法对测头的... 详细信息
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基于MEMS微触觉测头和纳米测量机的特征尺寸测量
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传感技术学报 2008年 第12期21卷 2097-2100页
作者: 李源 邹子英 傅云霞 傅星 栗大超 胡小唐 上海市计量测试技术研究院 上海201203 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
针对微小结构几何量测量的需求,通过集成MEMS微触觉测头和纳米测量机构建了高精度的测量系统。在验证测头性能的基础上,完成了一系列判断测头测量分辨力和精度的实验,在轴向、同向横向、异向横向三个方向测量的标准偏差分别为41.7552nm,... 详细信息
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微型激光干涉仪应用于纳米测量机
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计量技术 2002年 第4期 6-8页
作者: 陈津平 张宝峰 胡晓东 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
本文介绍德国SIOS公司的微型激光干涉仪在德国Ilmenau技术大学纳米测量机 (NMM )研制过程中的应用。简要介绍微型激光干涉仪的工作原理 ,重点论述NMM如何在 2 5mmx 2 5mmx 5mm的空间范围内实现分辨力为 1.
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纳米校准与测试——基于纳米测量机的试验性研究
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计测技术 2008年 第2期28卷 1-5,15页
作者: 陈晓梅 万宇 朱振宇 中国一航北京长城计量测试技术研究所 北京100095
主要介绍了基于纳米测量机的高阶梯差台阶标准样板和深沟槽深度标准样板计量测试和校准工作研究,包括在NMM上对两种标准样板进行计量测试和校准、在NMM上安装不同的探测传感器时纳米级深度标准样板和台阶高度样板的校准比较、以及在研... 详细信息
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集成聚焦式测头的纳米测量机用于台阶高度标准的评价
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光学学报 2008年 第6期28卷 1096-1100页
作者: 郭彤 陈津平 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
利用集成聚焦式测头的纳米测量机实现了高精度的台阶高度标准评价,该系统的测量范围可以达到25mm×25mm×5mm。描述了纳米测量机的工作原理,通过内嵌激光干涉仪和角度传感器的实时测量与反馈,实现高精度定位与扫描。聚焦式测头只作为零... 详细信息
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集成AFM测头的纳米测量机用于台阶高度的评价
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计量学报 2008年 第4期29卷 297-300页
作者: 郭彤 陈津平 傅星 T. Hausotte G. Jager 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072 伊尔梅瑙工业大学过程测量与传感技术研究所
利用纳米测量机(NMM)和原子力显微镜(AFM)实现了高精度的台阶高度评价,该系统的测量范围可以达到25 mm×25 mm×5 mm。文中描述了NMM和AFM的工作原理,说明了NMM的高精度定位性能,系统利用NMM实现x、y方向的扫描,AFM测头只是作为零点传感... 详细信息
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