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红外焦平面阵列非线性响应的分析和计算
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红外与毫米波学报 2001年 第4期20卷 253-258页
作者: 刘会通 王骐 郑志伟 张明 哈尔滨工业大学光电子技术研究所 黑龙江哈尔滨150001 洛阳光电技术发展中心 河南洛阳471009
分析了导致红外焦平面阵列响应非线性的各种因素 ;并以 Hg Cd Te红外焦平面阵列为例 ,以量子效率与入射光子波长的相关性为基础 ,计算了在准理想条件下探测器响应的非线性量 ;结合非均匀性校正 ,计算了在给定区间定标后的非线性大小 ;
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红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法中目标退化与伪像的消除方法
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红外与毫米波学报 2005年 第5期24卷 335-340页
作者: 张天序 石岩 华中科技大学图像识别与人工智能研究所
深入分析了红外焦平面阵列(IRFPA)非均匀性的神经网络校正法出现目标退化和伪像的成因,指出没有考虑目标边缘而盲目更新系数是产生问题的根源.在此基础上提出了防止目标退化和伪像的边缘指导的神经网络自适应校正方法(ED-NN-NUC).仿真... 详细信息
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红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法研究进展
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红外与毫米波学报 2007年 第6期26卷 409-413页
作者: 张天序 施长城 李洁珺 刘慧娜 袁雅婧 周泱 华中科技大学图像识别与人工智能研究所多谱信息处理技术国家重点实验室 湖北武汉430074
实现红外焦平面阵列非均匀性自适应校正是高级红外探测系统追求的重要目标,对提高红外探测系统的空间分辨率、温度分辨率、探测距离以及辐射量的正确度量具有重要意义.归纳总结了国内外关于凝视红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法的... 详细信息
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红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法研究
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红外与毫米波学报 2001年 第2期20卷 93-96页
作者: 姜光 刘上乾 西安电子科技大学技术物理学院 陕西西安710071
在分析红外焦平面阵列非均匀性校正现行算法的基础上 ,提出了一种具有自适应性能的新算法 .该算法以小波变换中的滤波器理论为基础 ,通过将图像序列在时间域的尺度分解和相应统计量计算 ,获得在红外焦平面校正中起影响的偏置和增益系数 .
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红外焦平面阵列的自适应非均匀性校正及硬件实现
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光学精密工程 2011年 第12期19卷 2985-2991页
作者: 曹扬 金伟其 刘崇亮 刘秀 北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室 北京100081
针对长时间工作或环境剧烈变化时红外焦平面阵列(IRFPA)器件易产生条纹状非均匀性的问题,研究了在不遮挡成像视场条件下它的动态非均匀性校正(NUC)及其硬件实现技术。介绍了基于场景的改进恒定统计NUC(ICS-NUC)方法,即通过纵向通道间的... 详细信息
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红外焦平面阵列的盲元自适应快速校正
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光学精密工程 2017年 第4期25卷 1009-1018页
作者: 李凌霄 冯华君 赵巨峰 徐之海 李奇 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 浙江杭州310027
为实现红外焦平面阵列(IRFPA)盲元的自适应快速校正,本文设计了一种基于三梯度阈值检测的快速盲元校正方法。先通过优化L0范式的约束方程消除图中的非均匀条纹,排除干扰,再对水平、竖直和对角3个方向进行梯度阈值检测,找到盲元位置点,... 详细信息
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红外焦平面阵列读出电路非均匀性研究
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红外与激光工程 2020年 第8期49卷 205-212页
作者: 尚超 王锦春 张晓兵 中国空空导弹研究院 河南洛阳471009 红外探测器技术航空科技重点实验室 河南洛阳471009 东南大学国家ASIC工程中心 江苏南京210096
读出电路对红外焦平面阵列成像系统的非均匀性有重要影响,采用动态非线性系统函数的泰勒级数建立功能电路单元的通用非均匀性模型,按照模拟型读出电路的一般结构建立读出电路的非均匀性模型,利用高斯噪声和柏林噪声模拟读出电路参数的... 详细信息
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红外焦平面阵列非均匀性非线性校正新方法
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光电工程 2008年 第4期35卷 121-125页
作者: 代少升 重庆邮电大学通信与信息工程学院 重庆400065
针对红外焦平面阵列非均匀性线性校正方法存在较大误差,而考虑非线性响应的校正算法又过于复杂,难于在实际工程中获得运用等难题,本文提出一种易于硬件实时处理、校正精度较高的红外焦平面阵列非均匀性非线性校正新方法。在介绍非线性... 详细信息
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红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型
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电子学报 2008年 第11期36卷 2150-2153页
作者: 屈惠明 陈钱 南京理工大学电子工程与光电技术学院
非均匀性校正是红外焦平面阵列成像质量提高的关键,在现有一元线性理论模型局限下,红外焦平面阵列成像非均匀性校正难以获得校正精度的提高.本文通过红外焦平面阵列探测器成像机理及其成像过程理论分析,推导了影响探测器响应及其非均匀... 详细信息
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红外焦平面阵列条纹非均匀性校正方法
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红外与激光工程 2013年 第8期42卷 1987-1990页
作者: 任建乐 陈钱 顾国华 钱惟贤 南京理工大学江苏省光谱成像与智能感知重点实验室 江苏南京210094 北京理工大学光电成像技术与系统教育部重点实验室 北京100081
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声。提出了一种基于实际场景和非均匀性分离的模型方法,能够在单帧内实现条纹非均匀性的校正。通过局部窗口模版遍历相邻列的误差函数,得... 详细信息
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