红外焦平面阵列读出电路非均匀性研究

作     者：尚超 王锦春 张晓兵 Shang Chao;Wang Jinchun;Zhang Xiaobing

作者机构：中国空空导弹研究院河南洛阳471009 红外探测器技术航空科技重点实验室河南洛阳471009 东南大学国家ASIC工程中心江苏南京210096 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2020年第49卷第8期

页      面：205-212页

核心收录：

学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

基　　金：航空科学基金(20182412009) 

主　　题：读出电路 红外焦平面阵列 非均匀性 仿真 

摘      要：读出电路对红外焦平面阵列成像系统的非均匀性有重要影响,采用动态非线性系统函数的泰勒级数建立功能电路单元的通用非均匀性模型,按照模拟型读出电路的一般结构建立读出电路的非均匀性模型,利用高斯噪声和柏林噪声模拟读出电路参数的空间随机分布,采用三维噪声的空间分量量化评估非均匀性,采用等长的矩阵模型简化阵列信号串行读出的时空转换过程,分析了噪声模型、多通道缓冲和响应非线性的非均匀特性,并指导某320×256阵列读出电路进行了非均匀特性仿真和优化。该方法能够对读出电路的非均匀性进行系统级仿真评估,并为其工程优化提供指导。