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  • 1 篇 经济学
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    • 1 篇 数学
    • 1 篇 统计学（可授理学、...

主题

  • 1 篇 spc
  • 1 篇 平稳可逆arma过程
  • 1 篇 残差x-图
  • 1 篇 检验能力

机构

  • 1 篇 华东师范大学

作者

  • 1 篇 姜永康
  • 1 篇 王静龙

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=残差X-图"
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残差x-图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力
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引用
应用概率统计 2001年 第1期17卷 51-58页
作者： 姜永康 王静龙 华东师范大学统计系 上海200062
本文将ＳＰＣ（Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ）技术应用于自相关数据，使用的基本方法是对数据做残差处理，本文给出了对于平稳可逆的 ＡＲＭＡ过程数据，在检验过程均值变化方面，残差 Ｘ－图优于Ｘ－图的条件．
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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