残差X-图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力
Detection Capability of Residual X-Chart for Stationary Reversible ARMA Process Data作者机构：华东师范大学统计系上海200062
出 版 物：《应用概率统计》 (Chinese Journal of Applied Probability and Statistics)
年 卷 期：2001年第17卷第1期
页 面：51-58页
核心收录：
学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学]
主 题：残差X-图 SPC 平稳可逆ARMA过程 检验能力
摘 要：本文将ＳＰＣ（Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ）技术应用于自相关数据，使用的基本方法是对数据做残差处理，本文给出了对于平稳可逆的 ＡＲＭＡ过程数据，在检验过程均值变化方面，残差 Ｘ－图优于Ｘ－图的条件．
维普期刊数据库
同方期刊数据库